1.本发明涉及针测试机技术领域，具体为一种线针测试机快速测试纠偏方法。
背景技术：2.高密度线针测试机采用线针治具对电路板进行测试，测试的时候线针治具上面的线针需要与电路板上的被测点形成良好的接触，才能保证测试出真实的结果，而不会由于接触不良导致误判。
3.但是由于电路板本身制造过程存在反复多次对位、工艺流程长、生产过程中有冷热交替变化等诸多变量，导致电路板会出现相对基准的偏移以及涨缩变形等误差，在测试过程中的表现是电路板某个区域内呈现大量不良，不良测试结果与位置信息高度相关。
4.这种情况下需要设备进行测试位置的微调，来对电路板进行重复测试，排除上述因素导致的影响，如何有效的进行位置微调，并节省节拍时间(设备单循环作业时间)，是一个待解决的问题。
技术实现要素：5.本发明的目的在于提供一种线针测试机快速测试纠偏方法，具备了能够有效的避免由于电路板制造误差引起的测试结果误判，同时采用了组合算法，兼顾了寻点效率与完善性的特点，能够往最有可能的方向去优先寻点，节省了测试的时间，同时能够避免误判。解决了由于电路板本身制造过程存在反复多次对位、工艺流程长、生产过程中有冷热交替变化等诸多变量，导致电路板会出现相对基准的偏移、以及涨缩变形等误差，在测试过程中的表现是电路板某个区域内呈现大量不良，不良测试结果与位置信息高度相关的问题。
6.为实现上述目的，本发明提供如下一种线针测试机快速测试纠偏方法：所述线针测试机快速测试纠偏方法包括：
7.步骤一：获取abcd点区域的测试结果，是偶发不良还是区域性的大面积不良，如果是偶发不良则判定为电路板不良；如果区域性大面积不良则判定为对位不良，需要进行纠偏；
8.步骤二：根据abcd区域内的不良图形分布，按照本发明的设计的算法计算出纠偏运动的方向和位移量，进行纠偏测试工作；包括以下步骤；
9.第一：采用黄金分割比例算法进行纠偏，设定一个循环次数，如果在循环次数以内完成纠偏即完成测试，如果循环次数内没完成测试则运行阿基米德螺旋算法；
10.第二：采用阿基米德螺旋算法，设定一个循环次数，如果循环次数以内完成纠偏即完成测试，如果循环次数内没完成测试则判定电路板不合格，结束测试；
11.步骤三：纠偏控制参数k1，k2，k1为黄金分割算法的重复次数，k2为阿基米德螺旋线算法的重复次数，初始设置为一常数，具体纠偏算法如下：
12.第一：当出现偏移时，先对图形进行位置计算，采用寻找对角线的方式，对最有可能的偏移方向进行偏移测试，偏移量为pad点大小的1/n，如果测试通过则ok，进行后续流
程；如果测试ng，有以下2种情况：
13.(1)原来ok的点ng了，此时可判定为偏移过量，需要往回进行偏移，往回偏移的量采用黄金分割比例算法进行寻点，以提高寻点概率，具体的，往回偏移的量为前次偏移量的(1-0.618)倍；
14.(2)原来ok的点还是ok，原来ng的点还是ng，此时可判定为偏移不足，则继续进行偏移，直至ok或偏移过量，每运行一次黄金分割比例算法，k1值减1，直至为零；
15.第二：当k1值为零的时候，运行阿基米德螺旋线算法，以原ng中心为中心，进行阿基米德螺旋寻点，如果测试结果ok则按ok结果往后进行；如果ng则继续寻点，每寻点1次，k2值减1，直至为零，具体的，参数a、b根据经验参数取值；
16.如果k1、k2都为零的时候，结束纠偏算法，判定产品ng。
17.可选的，步骤二中偏移方向的调整过程具体如下：
18.当出现图中的abcd4个测试点，abc三点ok，d点ng时,因为ac都是ok点，最有可能的偏移方向为bd的连线方向，故取bd连线为偏移方向。
19.可选的，所述abcd测试点在以上描述为测试点，在实际的测试中，不良测试结果会以区域的形式出现，abcd也可以为区域，根据算法去计算abcd在区域中间的位置，如区域的几何中心。
20.可选的，所述步骤三中的黄金分割比例算法具体为y＝0.618x。
21.可选的，所述步骤三中的阿基米德螺旋线算法具体为y＝a+bθ。
22.与现有技术相比，本发明的有益效果如下：
23.本发明能够有效的避免由于电路板制造误差引起的测试结果误判，同时采用了组合算法，兼顾了寻点效率与完善性的特点，能够往最有可能的方向去优先寻点，节省了测试的时间，同时能够避免误判。
附图说明
24.图1为本发明测试流程图；
25.图2为本发明测试ng点图。
具体实施方式
26.下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
27.实施例1
28.请参阅图1和图2，本发明提供一种线针测试机快速测试纠偏方法：所述线针测试机快速测试纠偏方法包括：
29.步骤一：获取abcd点区域的测试结果，是偶发不良还是区域性的大面积不良，如果是偶发不良则判定为电路板不良；如果区域性大面积不良则判定为对位不良，需要进行纠偏；
30.步骤二：
31.根据abcd区域内的不良图形分布，按照本发明的设计的算法计算出纠偏运动的方向和位移量，进行纠偏测试工作；包括以下步骤；
32.第一：采用黄金分割比例算法进行纠偏，设定一个循环次数，如果在循环次数以内完成纠偏即完成测试，如果循环次数内没完成测试则运行阿基米德螺旋算法；
33.第二：采用阿基米德螺旋算法，设定一个循环次数，如果循环次数以内完成纠偏即完成测试，如果循环次数内没完成测试则判定电路板不合格，结束测试；
34.值得注意的是：对角计算方式的原理为，abcd四个区域内某个区域发现大面积不良，另三个区域正常，比如假设abc正常，d不良，图形分布上ac为对角，bd为对角，此时判定bd对角线方向为最可能的偏差方向，取bd的对角方向为运动的逼近方向。
35.步骤三：
36.纠偏控制参数k1，k2，k1为黄金分割算法的重复次数，k2为阿基米德螺旋线算法的重复次数，初始设置为一常数，具体纠偏算法如下；
37.第一：当出现偏移时，先对图形进行位置计算，采用寻找对角线的方式，对最有可能的偏移方向进行偏移测试，偏移量为pad点大小的1/n，如果测试通过则ok，进行后续流程；如果测试ng，有以下2种情况：
38.(1)原来ok的点ng了，此时可判定为偏移过量，需要往回进行偏移，往回偏移的量采用黄金分割比例算法进行寻点，以提高寻点概率，具体的，往回偏移的量为前次偏移量的(1-0.618)倍；
39.(2)原来ok的点还是ok，原来ng的点还是ng，此时可判定为偏移不足，则继续进行偏移，直至ok或偏移过量，每运行一次黄金分割比例算法，k1值减1，直至为零；
40.第二：当k1值为零的时候，运行阿基米德螺旋线算法，以原ng中心为中心，进行阿基米德螺旋寻点，如果测试结果ok则按ok结果往后进行；如果ng则继续寻点，每寻点1次，k2值减1，直至为零，具体的，参数a、b根据经验参数取值；
41.如果k1、k2都为零的时候，结束纠偏算法，判定产品ng。
42.参阅图1至图2、步骤二中偏移方向的调整过程具体如下：
43.当出现图中的abcd4个测试点，abc三点ok，d点ng时,因为ac都是ok点，最有可能的偏移方向为bd的连线方向，故取bd连线为偏移方向。
44.参阅图1至图2、abcd测试点在以上描述为测试点，在实际的测试中，不良测试结果会以区域的形式出现，abcd也可以为区域，根据算法去计算abcd在区域中间的位置，如区域的几何中心。
45.参阅图1至图2、步骤三中的黄金分割比例算法具体为y＝0.618x。
46.参阅图1至图2、步骤三中的阿基米德螺旋线算法具体为y＝a+bθ。
47.尽管已经示出和描述了本发明的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。
技术特征：1.一种线针测试机快速测试纠偏方法，其特征在于：所述线针测试机快速测试纠偏方法包括：步骤一：获取abcd测试点区域性的实际测试结果，判定测试结果为区域内偶发不良，还是区域内大面积不良；如果是偶发不良则判定为电路板不合格，如果是区域内大面积不良则判定为接触不良，需要运行纠偏算法；步骤二：根据不良图形的位置特征，采用对角计算的方式，计算出最有可能的偏移方向，采用黄金分割比例算法进行位置逼近；对角计算方式为，abcd四个区域内某个区域发现大面积不良，另三个区域正常，比如假设abc正常，d不良，图形分布上ac为对角，bd为对角，此时判定bd对角线方向为最可能的偏差方向，取bd的对角方向为运动的逼近方向；步骤三：纠偏控制参数k1，k2；k1为黄金分割比例算法重复次数，k2为阿基米德螺旋线算法的重复次数，初始设置为一常数，具体纠偏算法如下：第一：当出现偏移时，先对图形进行位置计算，采用寻找对角线的方式，对最有可能的偏移方向进行偏移测试，偏移量为pad点大小的1/n，如果测试通过则ok，进行后续流程；如果测试ng，有以下2种情况：(1)原来ok的点ng了，此时可判定为偏移过量，需要往回进行偏移，往回偏移的量采用黄金分割比例算法进行寻点，以提高寻点概率；(2)原来ok的点还是ok，原来ng的点还是ng，此时可判定为偏移不足，则继续进行偏移，直至ok或偏移过量，每运行一次黄金分割比例算法，k1值减1，直至为零；第二：当k1值为零的时候，运行阿基米德螺旋线算法，以原ng中心为中心，进行阿基米德螺旋寻点，如果测试结果ok则按ok结果往后进行；如果ng则继续寻点，每寻点1次，k2值减1，直至为零；如果k1、k2都为零的时候，结束纠偏算法，判定产品ng。2.根据权利要求1所述的一种线针测试机快速测试纠偏方法，其特征在于：所述步骤一和步骤二之间还包括如下步骤：首先将图像输入预设模型，通常该模型来自数据图形文件；然后通过预设模型从图像上提取特征对比当前abcd测试点的实际测试结果；最后预设模型基于abcd映射关系，对abcd测试点的位置识别结果进行纠偏计算。3.根据权利要求1所述的一种线针测试机快速测试纠偏方法，其特征在于：所述步骤二中偏移方向的调整过程具体如下：当出现图中的abcd4个测试点，abc三点ok，d点ng时,因为ac都是ok点，最有可能的偏移方向为bd的连线方向，故取bd连线为偏移方向。4.根据权利要求1-3中任意一项所述的一种线针测试机快速测试纠偏方法，其特征在于：所述abcd测试点在以上描述为测试点，在实际的测试中，不良测试结果会以区域的形式出现，abcd也可以为区域，根据算法去计算abcd在区域中间的位置，如区域的几何中心。5.根据权利要求1所述的一种线针测试机快速测试纠偏方法，其特征在于：所述步骤三中的黄金分割比例算法具体为y＝0.618x。6.根据权利要求1所述的一种线针测试机快速测试纠偏方法，其特征在于：所述步骤三中的阿基米德螺旋线算法具体为y＝a+bθ。
技术总结本发明公开了一种线针测试机快速测试纠偏方法，包括，步骤一：获取ABCD点区域的测试结果；步骤二：根据ABCD区域内的不良图形分布，计算出纠偏运动的方向和位移量，进行纠偏测试工作；还包括以下步骤，第一：采用黄金分割比例算法进行纠偏，设定一个循环次数，在循环次数以内完成纠偏即完成测试，而循环次数内没完成测试则运行阿基米德螺旋算法；第二：采用阿基米德螺旋算法，设定一个循环次数，循环次数以内完成纠偏即完成测试，而循环次数内没完成测试则判定电路板不合格，结束测试。避免了由于电路板制造误差引起的测试结果误判，同时采用了组合算法，兼顾了寻点效率与完善性的特点，往最有可能的方向去优先寻点，节省了测试的时间且避免误判。且避免误判。且避免误判。
技术研发人员：徐望明 程晔 陆迎春
受保护的技术使用者：苏州亿来升光电科技有限公司
技术研发日：2022.07.11
技术公布日：2022/11/1
