1.本技术涉及图像处理技术领域，特别是涉及一种图像的坏线检测方法、设备和计算机可读存储介质。
背景技术：2.物体成像技术是把物体的光信息量以能量的方式传递给感光材料，最终成为可视影像。如，物体红外热成像技术是利用物体红外辐射强度的不同进行成像，凭借其不受光照因素影像、穿透能力强等优点，被广泛应用于安防、军事、医疗等领域。
3.但是，受成像技术设备影响，如，红外热成像技术受目前红外探测器制造工艺限制，红外探测器像元容易出现响应率异常的问题，在图像上形成坏点、坏簇，更甚至形成坏列，大大影响图像质量。
技术实现要素：4.本技术主要解决的技术问题是提供一种图像的坏线检测方法、设备和计算机可读存储介质，能够提高坏线检测的准确性。
5.为解决上述技术问题，本技术采用的一个技术方案是：提供一种图像的坏线检测方法，该方法包括：获取待处理图像；确定待处理图像中的各像素线的像素值分布情况，其中，像素线包括形成线段的若干线内像素点，像素线的像素值分布情况包括若干线内像素点之间的第一像素值差异情况和/或若干线外像素点与若干线内像素点之间的第二像素值差异情况，线外像素点为待处理图像中位于像素线的预设像素距离内的像素点；选出像素值分布情况满足坏线条件的像素线，以作为待处理图像中的坏线。
6.其中，确定待处理图像中的各像素线的像素值分布情况，包括：对于每条像素线，分别将像素线上的至少部分线内像素点作为第一当前像素点，获取每个第一当前像素点与对应的第一关联像素点之间的像素差值，以得到第一像素值差异情况，其中，第一当前像素点的第一关联像素点为像素线上与第一当前像素点间隔第一数量个像素点的线内像素点；和/或，对于每条像素线，分别将像素线上的至少部分线内像素点作为第二当前像素点，获取每个第二当前像素点与对应的第二关联像素点之间的像素差值，以得到第二像素值差异情况，其中，第二当前像素点的第二关联像素点为与第二当前像素点间隔第二数量个像素点的线外像素点，且第二关联像素点与第二当前像素点连接形成第一预设方向的线段，第一预设方向与像素线之间的夹角大于0。
7.其中，若像素值分布情况包括第一像素值差异情况，则坏线条件包括像素线上满足第一差异条件的第一当前像素点的数量大于第一阈值；和/或，若像素值分布情况包括第二像素值差异情况，则坏线条件包括像素线上满足第二差异条件的第二当前像素点的数量大于第二阈值。
8.其中，第一当前像素点的第一关联像素点有两个，第一差异条件为第一当前像素点与其中一个第一关联像素点之间的第一像素差值和与第一当前像素点与另一个第一关
联像素点之间的第二像素差值的乘积为正数，且第一像素差值的绝对值大于第一像素阈值、第二像素差值的绝对值大于第二像素阈值；第二当前像素点的第二关联像素点有两个，第二差异条件为第二当前像素点与其中一个第二关联像素点之间的第三像素差值大于第三像素阈值、第二当前像素点与另一个第二关联像素点之间的第四像素差值大于第四像素阈值，且第三像素差值的绝对值小于第五像素阈值、第四像素差值的绝对值小于第六像素阈值；或者，第三像素差值小于第三像素阈值的相反数、第四像素差值小于第四像素阈值的相反数，且第三像素差值的绝对值小于第五像素阈值、第四像素差值的绝对值小于第六像素阈值。
9.其中，第一阈值和第二阈值中的至少一者是基于待处理图像的分辨率确定的；和/或，若像素值分布情况包括第一像素值差异情况，则坏线条件包括像素线上的目标像素点的数量大于第一阈值，目标像素点为满足第一差异条件和预设分布条件的第一当前像素点，预设分布条件为目标像素点与至少部分其他目标像素点连续分布达到预设长度。
10.其中，第一预设方向与像素线垂直。
11.其中，若像素值分布情况包括第二像素值差异情况，在确定待处理图像中的各像素线的第二像素值差异情况之前，图像的坏线检测方法还包括：对待处理图像进行第二预设方向的均值滤波处理，第二预设方向为像素线的延伸方向。
12.其中，在选出像素值分布情况满足坏线条件的像素线，以作为待处理图像中的坏线之后，图像的坏线检测方法还包括：利用位于坏线的预设位置的非坏线，替换坏线。
13.其中，像素线为像素列或像素行，和/或，待处理图像为红外热成像图像。
14.为解决上述技术问题，本技术采用的另一个技术方案是：提供一种图像的坏线检测设备，该图像的坏线检测设备包括存储器和处理器，存储器存储有程序指令，处理器用于执行程序指令以实现上述的图像的坏线检测方法。
15.为解决上述技术问题，本技术采用的另一个技术方案是：提供一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质用于存储程序指令，程序指令能够被执行以实现上述的图像的坏线检测方法。
16.上述实施方式，通过待处理图像中的各像素线的像素值分布情况是否满足坏线条件，确定各像素线是否为待处理图像中的坏线。故，基于坏线本身的分布特性对待处理图像进行坏线检测，能够减小个别像素点异常对坏线检测效果的影响，提高了坏线检测的准确性，且操作简单；另外，受图像的场景信息、亮度等影响小、限制小，能够适用于各种不同的场景。
附图说明
17.图1是本技术提供的图像的坏线检测方法一实施例的流程示意图；
18.图2是本技术提供的坏线一实施例的全局示意图；
19.图3是本技术提供的坏线一实施例的局部放大示意图；
20.图4是本技术提供的图像的坏线检测设备一实施例的结构示意图；
21.图5是本技术提供的计算机可读存储介质一实施例的结构示意图。
具体实施方式
22.下面结合说明书附图，对本技术实施例的方案进行详细说明。
23.以下描述中，为了说明而不是为了限定，提出了诸如特定系统结构、接口、技术之类的具体细节，以便透彻理解本技术。
24.本文中术语“和/或”，仅仅是一种描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，a和/或b，可以表示：单独存在a，同时存在a和b，单独存在b这三种情况。另外，本文中字符“/”，一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。此外，本文中的“多”表示两个或者多于两个。另外，本文中术语“至少一种”表示多种中的任意一种或多种中的至少两种的任意组合，例如，包括a、b、c中的至少一种，可以表示包括从a、b和c构成的集合中选择的任意一个或多个元素。
25.请参阅图1，图1是本技术提供的图像的坏线检测方法一实施例的流程示意图。需注意的是，若有实质上相同的结果，本实施例并不以图1所示的流程顺序为限。如图1所示，本实施例包括：
26.步骤s11：获取待处理图像。
27.本实施例的方法用于检测待处理图像中的坏线，待处理图像可以为任意需要坏线检测的图像，本文所述的待处理图像可以但不限于分辨率超过4k的高分辨率图像、多目拼接的图像、缝合全景图像等，在此不做具体限定。
28.在一实施方式中，待处理图像具体可以从本地存储或云端存储中获取得到。可以理解地，在其他实施方式中，也可通过图像采集设备对当前环境进行采集得到待处理图像，在此不做具体限定。
29.在一实施方式中，待处理图像为红外热成像图像。由于红外热成像技术利用物体红外辐射强度的不同进行成像，但受红外探测器制造工艺限制，红外探测器像元较容易出现响应率异常的问题，红外热成像图像上容易出现坏线。可以理解地，在其他实施方式中，待处理图像也可为灰度图像等，在此不做具体限定。
30.步骤s12：确定待处理图像中的各像素线的像素值分布情况。
31.本实施方式中，确定待处理图像中的各像素线的像素值分布情况。由于坏线的像素值分布情况是已知的，所以通过确定待处理图像中的各像素线的像素值分布情况，能够便于后续根据各像素线的像素值分布情况和已知的坏线的像素值分布情况确定待处理图像中各像素线是否为坏线。在一实施方式中，像素线可以为待处理图像的像素行或者像素列。可以理解地，在其他实施方式中，像素线也可以为待处理图像中像素斜线、像素曲线等，在此不做具体限定。需要说明的是，在下文中，为了便于描述，本技术将以像素线为像素列为例进行描述说明，但可以理解的是，这样的描述并不是限定像素线的具体类型。
32.其中，像素线包括形成线段的若干线内像素点，像素线的像素值分布情况包括构成像素线的若干线内像素点之间的第一像素值差异情况和/或若干线外像素点与构成像素线的若干线内像素点之间的第二像素值差异情况。
33.在一实施方式中，对于每条像素线，分别将像素线上的至少部分线内像素点作为第一当前像素点，获取每个第一当前像素点与对应的第一关联像素点之间的像素差值，以得到像素线的第一像素值差异情况，其中，第一当前像素点的第一关联像素点为像素线上与第一当前像素点间隔第一数量个像素点的线内像素点。也就是说，对于每条像素线来说，
分别将像素线上的至少部分线内像素点作为第一当前像素点，获取每个第一当前像素点和对应的像素线上与第一当前像素点间隔第一数量个像素点的线内像素点之间的像素差值；然后通过每个第一当前像素点与对应的第一关联像素点之间的像素差值，确定像素线的第一像素值差异情况。
34.其中，不对像素线上作为第一当前像素点的线内像素点的个数进行限定，可根据实际使用需要具体设置。例如，将像素线包括的全部线内像素点均分别作为第一当前像素点，或者将像素线包括的三分之二的线内像素点分别作为第一当前像素点。示例性地，分别将像素线上的各个线内像素点作为第一当前像素点，获取每个第一当前像素点与对应的第一关联像素点之前的像素差值，以得到该像素线的第一像素值差异情况；通过将像素线上的各个线内像素点分别作为第一当前像素点，以对像素线上的各个线内像素点进行分析，从而能够更加全面地对每条像素线进行分析，使得得到的第一像素值差异情况更加准确，进而使得后续确定的待处理图像中的坏线更加准确，提高了坏线检测的准确性。另外，也不对第一数量进行限定，可根据实际使用需要具体设置。例如，第一数量为1、3、5或者7等奇数取值。示例性地，以像素线为像素列a、第一数量为1为例；像素列a包括间隔设置的线内像素点a1、线内像素点a2、线内像素点a3、线内像素点a4和线内像素点a5；由于第一数量为1，所以在线内像素点a1为第一当前像素点时，作为第一当前像素点的线内像素点a1的第一关联像素点为与线内像素点a1间隔1个像素点的线内像素点a2；而在线内像素点a2为第一当前像素点时，作为第一当前像素点的线内像素点a2的第一关联像素点为与线内像素点a2间隔1个像素点的线内像素点a1或者线内像素点a3；而在线内像素点a3为第一当前像素点时，作为第一当前像素点的线内像素点a3的第一关联像素点为与线内像素a3间隔1个像素点的线内像素点a2或者线内像素点a4；而在线内像素点a4为第一当前像素点时，作为第一当前像素点的线内像素点a4的第一关联像素点为与线内像素点a4间隔1个像素点的线内像素点a3。
35.其中，获取每个第一当前像素点与对应的第一关联像素点之间的像素差值的具体公式如下所示：
36.diff1(i,j)＝img(i,j)-img(i-a,j)
37.diff2(i,j)＝img(i,j)-img(i+a,j)
38.其中，α表示第一数量；(i,j)表示第一当前像素点坐标；(i-α,j)和(i+α,j)均表示像素线上与第一当前像素点间隔第一数量个像素点的线内像素点坐标；diff1(i,j)和diff2(i,j)均表示第一当前像素点与对应的第一关联像素点之间的像素差值。
39.在一实施方式中，第一当前像素点的第一关联像素点可以是1个。其中，在第一当前像素点的第一关联像素点为1个时，第一当前像素点的第一关联像素点即与第一当前像素点间隔第一数量个像素点的线内像素点可能为其之前的线内像素点，也可能为其之后的线内像素点。例如，以像素线为像素列a为例，在第一当前像素点的第一关联像素点为1个时，对于像素列a中的每个第一当前像素点来说，与第一当前像素点间隔第一数量个像素点的线内像素点可能为其之前行的线内像素点，也可能为其之后行的线内像素点。又例如，以像素线为像素行b为例，在第一当前像素点的第一关联像素点为1个时，对于像素行b中的每个第一当前像素点来说，与第一当前像素点间隔第一数量个像素点的线内像素点可能为其之前列的线内像素点，也可能为其之后列的线内像素点。可以理解地，在其他实施方式中，
第一当前像素点的第一关联像素点也可以为2个，在此不做具体限定。其中，在第一当前像素点的第一关联像素点为2个时，对于像素线中的每个第一当前像素点来说，第一当前像素点的第一关联像素点即与第一当前像素点间隔第一数量个像素点的线内像素点为其之前的线内像素点以及其之后的线内像素点。
40.其中，对于上述公式，需要说明的是，在第一当前像素点的第一关联像素点为1个时，根据具体情况利用diff1(i,j)或者diff2(i,j)对应的公式计算第一当前像素点与对应的第一关联像素点之间的像素差值；而在第一当前像素点的第一关联像素点为2个时，利用diff1(i,j)对应的公式计算第一当前像素点与其中1个第一关联像素点之间的像素差值，利用diff2(i,j)对应的公式计算第一当前像素点与另外1个第一关联像素点之间的像素差值。示例性地，以像素线为像素列a、第一当前像素点的第一关联像素点为1个、第一数量为1为例；对于像素列a中的第一当前像素点a1来说，与第一当前像素点a1间隔1个像素点的线内像素点可能为其上一行的线内像素点a2，也可能为其下一行的线内像素点a3；所以，在与第一当前像素点a1间隔1个像素点的线内像素点为其上一行的线内像素点a2时，使用diff1(i,j)对应的公式计算第一当前像素点a1与线内像素点a2之间的像素差值；而在与第一当前像素点a1间隔1个像素点的线内像素点为其下一行的线内像素点a3时，使用公式diff2(i,j)对应的公式计算第一当前像素点a1与线内像素点a3之间的像素差值。
41.在一实施方式中，对于每条像素线，分别将像素线上的至少部分线内像素点作为第二当前像素点，获取每个第二当前像素点与对应的第二关联像素点之间的像素差值，以得到像素线的第二像素值差异情况，其中，第二当前像素点的第二关联像素点为与第二当前像素点间隔第二数量个像素点的线外像素点。也就是说，对于每条像素线，分别将像素线上的至少部分线内像素点作为第二当前像素点，获取每个第二当前像素点和与第二当前像素点间隔第二数量个像素点的线外像素点之间的像素差值；然后通过每个第二当前像素点与对应的第二关联像素点之间的像素差值，确定像素线的第二像素值差异情况。
42.其中，不对像素线上作为第二当前像素点的线内像素点的个数进行限定，可根据实际使用需要具体设置。例如，将像素线包括的全部线内像素点均分别作为第二当前像素点，或者将像素线包括的三分之二的线内像素点分别作为第二当前像素点。示例性地，分别将像素线上的各个线内像素点作为第二当前像素点，获取每个第二当前像素点与对应的第二关联像素点之前的像素差值，以得到像素线的第二像素值差异情况；通过将像素线上的各个线内像素点分别作为第二当前像素点，以对像素线上的各个线内像素点进行分析，从而能够更加全面地对每条像素线进行分析，使得得到的第二像素值差异情况更加准确，进而使得后续确定的待处理图像中的坏线更加准确，提高了坏线检测的准确性。另外，也不对第二数量进行限定，可根据实际使用需要具体设置。例如，第二数量为1或者2等。示例性地，以像素线为像素列、第二数量为1为例；待处理图像包括间隔设置的像素列a、像素列b、像素列c和像素列d；由于第二数量为1，所以在像素列a中的至少部分线内像素点为第二当前像素点时，像素列a中的第二当前像素点的第二关联像素点为与第二当前像素点间隔1个像素点的线外像素点，即像素列a中的第二当前像素点的第二关联像素点为像素列b上的像素点；像素列b中的第二当前像素点的第二关联像素点为与第二当前像素点间隔1个像素点的线外像素点，即像素列b中的第二当前像素点的第二关联像素点为像素列a或像素列c上的像素点；像素列c中的第二当前像素点的第二关联像素点为与第二当前像素点间隔1个像素
点的线外像素点，即像素列c中的第二当前像素点的第二关联像素点为像素列b或者像素列d上的像素点；像素列d中的第二当前像素点的第二关联像素点为与第二当前像素点间隔1个像素点的线外像素点，即像素列d中的第二当前像素点的第二关联像素点为像素列c上的像素点。
43.其中，获取每个第二当前像素点与对应的第二关联像素点之间的像素差值的具体公式如下所示：
44.diff3(i,j)＝img(i,j)-img(i,j-d)
45.diff4(i,j)＝img(i,j)-img(i,j+d)
46.其中，d表示第二数量；(i,j)表示第二当前像素点坐标；(i,j-d)和(i,j+d)均表示像素线上与第二当前像素点间隔第二数量个像素点的线外像素点坐标；diff3(i,j)和diff4(i,j)均表示第二当前像素点与对应的第二关联像素点之间的像素差值。
47.在一实施方式中，第二当前像素点的第二关联像素点可以是1个。其中，在第二当前像素点的第二关联像素点为1个时，第二当前像素点的第二关联像素点即与第二当前像素点间隔第二数量个像素点的线外像素点可能为其之前的线外像素点，也可能为其之后的线外像素点。例如，以像素线为像素列为例，在第二当前像素点的第二关联像素点为1个时，对于像素列中的每个第二当前像素点来说，与第二当前像素点间隔第二数量个像素点的线外像素点可能为其之前列的线外像素点，也可能为其之后列的线外像素点。又例如，以像素线为像素行为例，在第二当前像素点的第二关联像素点为1个时，对于像素行中的每个第二当前像素点来说，与第二当前像素点间隔第二数量个像素点的线外像素点可能为其之前行的线外像素点，也可能为其之后行的线外像素点。可以理解地，在其他实施方式中，第二当前像素点的第二关联像素点也可以为2个，在此不做具体限定。其中，在第二当前像素点的第二关联像素点为2个时，对于像素线中的每个第二当前像素点来说，第二当前像素点的第二关联像素点即与第二当前像素点间隔第二数量个像素点的线外像素点为其之前的线外像素点以及其之后的线外像素点。
48.其中，对于上述公式，需要说明的是，在第二当前像素点的第二关联像素点为1个时，根据具体情况利用diff3(i,j)或者diff4(i,j)对应的公式计算第二当前像素点与对应的第二关联像素点之间的像素差值；而在第二当前像素点的第二关联像素点为2个时，利用diff3(i,j)对应的公式计算第二当前像素点与其中1个第二关联像素点之间的像素差值，利用diff4(i,j)对应的公式计算第二当前像素点与另外1个第二关联像素点之间的像素差值。示例性地，以像素线为像素列a、第二当前像素点的第二关联像素点为1个、第二数量为1为例；对于像素列a中的第二当前像素点a1来说，与第二当前像素点a1间隔1个像素点的线外像素点可能为其前一像素列即像素列b上的线外像素点，也可能为其后一像素列即像素列c上的线外像素点；所以，在与第二当前像素点a1间隔1个像素点的线外像素点为其前一像素列即像素列b上的线外像素点时，使用diff3(i,j)对应的公式计算第二当前像素点a1与线外像素点之间的像素差值；而在与第二当前像素点a1间隔1个像素点的线外像素点为其后一像素列即像素列c上的线外像素点时，使用公式diff4(i,j)对应的公式计算第二当前像素点a1与线外像素点之间的像素差值。
49.另外，上述实施方式中，第二当前像素点的第二关联像素点与第二当前像素点连接形成第一预设方向的线段，第一预设方向与像素线之间的夹角大于0。在一具体实施方式
中，第一预设方向与像素线之间的夹角等于90
°
。示例性地，以待处理图像包括间隔设置的像素线a、像素线b和像素点c、第二数量为1为例；对于像素线b上的每个第二当前像素点来说，在与第二当前像素点b间隔1个像素点的线外像素点为其前一像素列即像素列a上的线外像素点时，第二当前像素点b的第二关联像素点为像素线a上的与第二当前像素点b位于同一行的像素点；而在与第二当前像素点b间隔1个像素点的线外像素点为其后一像素列即像素列c上的线外像素点时，第二当前像素点b的第二关联像素点为像素线c上的与第二当前像素点b位于同一行的像素点。可以理解地，在其他具体实施方式中，第一预设方向也可与像素线之间的夹角呈其他度数，在此不做具体限定。
50.由于待处理图像中可能会存在噪声点，从而使得确定的待处理图像中的各像素线的第二像素值差异情况不够准确。所以在一实施方式中，在确定待处理图像中的各像素线的第二像素值差异情况之前，对待处理图像进行第二预设方向的均值滤波处理，以滤除待处理图像中存在的噪声点。其中，第二预设方向为像素线的延伸方向。例如，在像素线为待处理图像的像素列时，第二预设方向为像素列的延伸方向即待处理图像的竖直方向，此时对待处理图像进行竖直方向的均值滤波处理。又例如，在像素线为待处理图像的像素行时，第二预设方向为像素行的延伸方向即待处理图像的水平方向，此时对待处理图像进行水平方向的均值滤波处理。
51.具体地，以预设行数和预设列数的窗口大小对待处理图像进行均值滤波处理。需要说明的是，对于待处理图像中的边缘数据，可采用镜像补边或者复制补边的方式补边后进行均值滤波处理。其中，不对预设行数和预设列数进行限定，可根据实际使用需要具体设置。例如，在像素线为像素列时，预设行数为3、预设列数为1。又例如，在像素线为像素行时，预设行数为1、预设列数为3。
52.步骤s13：选出像素值分布情况满足坏线条件的像素线，以作为待处理图像中的坏线。
53.本实施方式中，选出像素值分布情况满足坏线条件的像素线，以作为待处理图像中的坏线。由于在像素线的像素值分布情况满足坏线条件时，即可看作此像素线的像素值分布情况满足坏线的分布特性，所以将像素值分布情况满足坏线条件的像素线作为坏线。
54.具体地，如图2、图3所示，图2是本技术提供的坏线一实施例的全局示意图，图3是本技术提供的坏线一实施例的局部放大示意图，像素线1的像素值分布情况为第一像素值差异情况，在像素线1的第一像素值差异情况满足坏线条件时，即可看作是像素线1的像素值分布情况符合坏线的分布特性，所以像素线1为坏线；而由于像素线1的像素值分布情况满足明暗相间坏线的分布特性，所以像素线1为呈明暗相间分布特性的坏线。像素线2的像素值分布情况为第二像素值差异情况，在像素线2的第二像素值差异情况满足坏线条件时，即可看作像素线2的像素值分布情况符合坏线的分布特性，所以像素线2为坏线；而由于像素线2的像素值分布情况满足贯穿坏线的分布特性，所以像素线2为贯穿坏线。需要说明的是，在待处理图像中的各像素点的像素值分布情况包括第一像素值差异情况和第二像素值差异情况时，本技术提供的图像的坏线检测方法能够同时对呈明暗相间分布特性的坏线和贯穿坏线进行检测。
55.上述实施方式中，通过确定待处理图像中的各像素线的像素值分布情况是否满足坏线条件，从而确定各像素线是否为待处理图像中的坏线。故，本技术提供的图像的坏线检
测方法是基于坏线本身的分布特性对待处理图像进行坏线检测的，能够减小个别像素点异常对坏线检测效果的影响，提高了坏线检测的准确性，且操作简单；另外，受图像的场景信息、亮度等影响小、限制小，能够适用于各种不同的场景。
56.在一实施方式中，若确定待处理图像中的各像素线的像素值分布情况包括第一像素值差异情况，则坏线条件包括像素线上满足第一差异条件的第一当前像素点的数量大于第一阈值。示例性地，以待处理图像包括像素线a、像素线b、像素线c、像素线d和像素线e为例；确定待处理图像中的各像素线的像素值分布情况包括第一像素值差异情况，由于像素线b和像素线d上的满足第一差异条件的第一当前像素点的数量大于第一阈值，所以将像素线b和像素线d作为待处理图像中的坏线。
57.其中，不对第一阈值进行限定，可根据实际使用需要具体设置。在一实施方式中，第一阈值为一固定数值，如，第一阈值取50等。为了增强第一阈值的自适应性，从而提高对待处理图像的坏线检测准确性，在其他实施方式中，第一阈值基于待处理图像的分辨率确定，也就是说，第一阈值与待处理图像的分辨率关联，可基于待处理图像的分辨率适应性设置第一阈值。示例性地，以像素线为像素列为例，若待处理图像的分辨率为m行
×
n列，那么第一阈值可以设置为第一预设比例
×
m等；其中，不对第一预设比例进行限定，如，第一预设比例为0.3、0.4或者0.5等。
58.另外，也不对第一差异条件进行限定，可根据实际使用需要具体设置。对于各像素线上的各第一当前像素点来说，在第一当前像素点的第一关联像素点为1个时，在一实施方式中，第一差异条件为第一当前像素点与对应的第一关联像素点之间的像素差值的绝对值大于0。由于在当第一当前像素点与对应的第一关联像素点之间的像素差值的绝对值过小时，该第一当前像素点可能不为坏点，所以为了提高对待处理图像的坏线检测的准确性，在其他实施方式中，第一差异条件为第一当前像素点与对应的第一关联像素点之间的差值的绝对值大于第一预设像素阈值，其中，不对第一预设像素阈值的大小进行具体限定，以准确判断第一当前像素点是否为坏点，从而可准确判断第一当前像素点所属的像素线是否为坏线，提高了坏线的检测准确性。
59.对于各像素线上的各第一当前像素点来说，在第一当前像素点的第一关联像素点有2个时，在一实施方式中，第一差异条件为第一当前像素点和其中一个第一关联像素点之间的第一像素差值与第一当前像素点和另一个第一关联像素点之间的第二像素差值的乘积为正数，且第一像素差值的绝对值大于第一像素阈值、第二像素差值的绝对值大于第二像素阈值；通过第一当前像素点的2个第一关联像素点确定第一当前像素点是否满足第一差异条件，能够更加准确地确定像素线中满足第一差异条件的第一当前像素点，从而能够对待处理图像的坏线进行更加准确地检测。其中，第一差异条件的具体公式如下所示：
60.diff1(i,j)*diff2(i,j)》0且abs(diff1(i,j))》thr1且abs(diff2(i,j))》thr2
61.其中，diff1(i,j)表示第一像素差值；diff2(i,j)表示第二像素差值；abs()表示绝对值函数；thr1表示第一像素阈值，其中，不对第一像素阈值进行具体限定；thr2表示第二像素阈值，其中，不对第二像素阈值进行具体限定，第二像素阈值和第一像素阈值可以相等，也可以不等。需要说明的是，以像素线为像素列a、第一数量为1为例，像素列a包括从上至下间隔设置的线内像素点a1、线内像素点a2、线内像素点a3和线内像素点a4；在线内像素点a2为第一当前像素点时，线内像素点a1和线内像素点a3为作为第一当前像素点的线内像
素点a2的第一关联像素点，作为第一当前像素点的线内像素点a2与两个第一关联像素点之间的第一像素差值和第二像素差值均大于0；在线内像素点a3为第一当前像素点时，线内像素点a2和线内像素点a4为作为第一当前像素点的线内像素点a3的第一关联像素点，作为第一当前像素点的线内像素点a3与两个第一关联像素点之间的第一像素差值和第二像素差值均小于0；此时，像素列a上的线内像素点a2和线内像素点a3呈明暗相间分布。
62.对于每条像素线来说，若在像素线上满足第一差异条件的第一当前像素点间断分布或者连续分布的长度较短时，即便像素线上满足第一差异条件的第一当前像素点的数量大于第一阈值，该像素线也可能不为坏线，所以为了提高确定的待处理图像中的坏线的准确性，在其他实施方式中，若像素值分布情况包括第一像素值差异情况，坏线条件也可包括像素线上的目标像素点的数量大于第一阈值，目标像素点为满足第一差异条件和预设分布条件的第一当前像素点，预设分布条件为目标像素点与至少部分其他目标像素点连续分布达到预设长度。也就是说，坏线条件为像素线上的满足第一差异条件和预设分布条件的第一当前像素点的数量大于第一阈值。
63.在一实施方式中，若确定待处理图像中的各像素线的像素值分布情况包括第二像素值差异情况，则坏线条件包括像素线上满足第二差异条件的第二当前像素点的数量大于第二阈值。示例性地，以待处理图像包括像素线a、像素线b、像素线c、像素线d和像素线e为例；确定待处理图像中的各像素线的像素值分布情况包括第二像素值差异情况，由于像素线b和像素线d上的满足第二差异条件的第二当前像素点的数量大于第二阈值，所以将像素线b和像素线d作为待处理图像中的坏线。
64.其中，不对第二阈值进行限定，可根据实际使用需要具体设置。在一实施方式中，第二阈值为一固定数值，如，第二阈值取100等。为了增强第二阈值的自适应性，从而提高对待处理图像的坏线检测准确性，在其他实施方式中，第二阈值基于待处理图像的分辨率确定，也就是说，第二阈值与待处理图像的分辨率关联，可基于待处理图像的分辨率适应性设置第二阈值。示例性地，以像素线为像素列为例，若待处理图像的分辨率为m行
×
n列，那么第一阈值可以设置为第二预设比例
×
m等；其中，不对第二预设比例进行限定，如，第二预设比例为0.3、0.4或者0.5等。
65.另外，也不对第二差异条件进行限定，可根据实际使用需要具体设置。对于各像素线上的各第二当前像素点来说，在第二当前像素点的第二关联像素点为1个时，在一实施方式中，第二差异条件为第二当前像素点与对应的第二关联像素点之间的像素差值大于第二预设像素阈值，其中，不对第二预设像素阈值的大小进行限定，此时选出的待处理图像的坏线中各像素点的亮度亮于待处理图像中非坏线的各像素点的亮度；或者，第二差异条件为第二当前像素点与对应的第二关联像素点之间的像素差值小于第二预设像素阈值的相反数，此时选出的待处理图像的坏线中各像素点的亮度暗于待处理图像中非坏线的各像素点的亮度。
66.对于各像素线上的各第二当前像素点来说，在第二当前像素点的第二关联像素点有2个时，在一实施方式中，第二差异条件为第二当前像素点和其中一个第二关联像素点之间的第三像素差值大于第三像素阈值、第二当前像素点和另一个第二关联像素点之间的第四像素差值大于第四像素阈值，且第三像素差值的绝对值小于第五像素阈值、第四像素差值的绝对值小于第六像素阈值。通过第二当前像素点的2个第二关联像素点确定第二当前
像素点是否满足第二差异条件，能够更加准确地确定满足第二差异条件的第二当前像素点，从而能够对待处理图像的坏线进行更加准确地检测；另外，通过设置第三像素差值的绝对值小于第五像素阈值、第四像素差值的绝对值小于第六像素阈值，能够减少待处理图像的边缘线被确定为坏线的可能，在对待处理图像的边缘信息起到保护的同时提高了坏线的检测准确性，降低误检的概率。其中，第二差异条件的具体公式如下所示：
67.diff3(i,j)》thr3且diff4(i,j)》thr4且abs(diff3(i,j))《thr5且abs(diff4(i,j))《thr6
68.其中，diff3(i,j)表示第三像素差值；diff4(i,j)表示第四像素差值；abs()表示绝对值函数；thr3表示第三像素阈值，其中，不对第三像素阈值进行具体限定；thr4表示第四像素阈值，其中，不对第四像素阈值进行具体限定，第三像素阈值和第四像素阈值可以相等，也可以不相等，如，第三像素阈值和第四像素阈值均取10；thr5表示第五像素阈值，其中，不对第五像素阈值进行具体限定；thr6表示第六像素阈值，其中，不对第六像素阈值进行具体限定，第五像素阈值和第六像素阈值可以相等，也可以不等，如第五像素阈值和第六像素阈值均取30。
69.或者，第二差异条件为第二当前像素点和其中一个第二关联像素点之间的第三像素差值小于第三像素阈值的相反数、第二当前像素点和另一个第二关联像素点之间的第四像素差值小于第四像素阈值的相反数，且第三像素差值的绝对值小于第五像素阈值、第四像素差值的绝对值小于第六像素阈值。其中，第二差异条件的具体公式如下所示：diff3(i,j)《-thr3且diff4(i,j)《-thr4且abs(diff3(i,j))《thr5且abs(diff4(i,j))《thr6
70.其中，diff3(i,j)表示第三像素差值；diff4(i,j)表示第四像素差值；abs()表示绝对值函数；-thr3表示第三像素阈值的相反数，其中，不对第三像素阈值进行具体限定；-thr4表示第四像素阈值的相反数，其中，不对第四像素阈值进行具体限定，第三像素阈值和第四像素阈值可以相等，也可以不等，如，第三像素阈值和第四像素阈值均取10；thr5表示第五像素阈值，其中，不对第五像素阈值进行具体限定；thr6表示第六像素阈值，其中，不对第六像素阈值进行具体限定，第五像素阈值和第六像素阈值可以相等，也可以不等，如第五像素阈值和第六像素阈值均取30。
71.为了提高待处理图像的图像质量，减少由于待处理图像中坏线的存在而影响视觉体验，在一实施方式中，在选出像素值分布情况满足坏线条件的像素线，以作为待处理图像中的坏线之后，利用位于坏线的预设位置的非坏线，替换坏线，从而将待处理图像中的坏线消除，完成待处理图像的修复。其中，不对预设位置进行限定，可根据实际使用需要具体设置。
72.例如，位于坏线的预设位置的非坏线为与坏线间隔第三数量像素线的非坏线，不对第三数量进行限定，如，第三数量为1或2等。示例性地，假定第三数量为1，待处理图像包括n个像素线，其中，待处理图像的第2条像素线为坏线；由于待处理图像的第1条像素线和第3条像素线均为非坏线，所以可以用待处理图像的第1条像素线或第3条像素线替换待处理图像的第2条像素线，或者也可以用待处理图像的第1条像素线和第3条像素线的均值替换待处理图像的第2条像素线。示例性地，假定第三数量为1，待处理图像包括n个像素线，其中，待处理图像的第2条像素线为坏线1、第3条像素线为坏线2；由于与坏线2间隔1个像素线的非坏线仅为第4条像素线，所以用待处理图像的第4条像素线替换待处理图像的第3条像
素线。
73.其中，需要说明的是，若与坏线间隔第三数量像素线的像素线为依旧为坏线的话，此时取与坏线间隔第四数量像素线的非坏线替换坏线，第四数量大于第三数量，如，第四数量为2或3等。
74.请参阅图4，图4是本技术提供的图像的坏线检测设备一实施例的结构示意图。图像的坏线检测设备40包括相互耦接的存储器41和处理器42，处理器42用于执行存储器41中存储的程序指令，以实现上述任一图像的坏线检测方法实施例的步骤。在一个具体的实施场景中，图像的坏线检测设备40可以包括但不限于：微型计算机、服务器，此外，图像的坏线检测设备40还可以包括笔记本电脑、平板电脑等移动设备，在此不做限定。
75.具体而言，处理器42用于控制其自身以及存储器41以实现上述任一图像的坏线检测方法实施例的步骤。处理器42还可以称为cpu(central processing unit，中央处理单元)。处理器42可能是一种集成电路芯片，具有信号的处理能力。处理器42还可以是通用处理器、数字信号处理器(digital signal processor,dsp)、专用集成电路(application specific integrated circuit,asic)、现场可编程门阵列(field-programmable gate array,fpga)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。另外，处理器42可以由集成电路芯片共同实现。
76.请参阅图5，图5是本技术提供的计算机可读存储介质一实施例的结构示意图。本技术实施例的计算机可读存储介质50存储有程序指令51，该程序指令51被执行时实现本技术图像的坏线检测方法任一实施例以及任意不冲突的组合所提供的方法。其中，该程序指令51可以形成程序文件以软件产品的形式存储在上述计算机可读存储介质50中，以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本技术各个实施方式方法的全部或部分步骤。而前述的计算机可读存储介质50包括：u盘、移动硬盘、只读存储器(rom，read-only memory)、随机存取存储器(ram，random access memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质，或者是计算机、服务器、手机、平板等终端设备。
77.若本技术技术方案涉及个人信息，应用本技术技术方案的产品在处理个人信息前，已明确告知个人信息处理规则，并取得个人自主同意。若本技术技术方案涉及敏感个人信息，应用本技术技术方案的产品在处理敏感个人信息前，已取得个人单独同意，并且同时满足“明示同意”的要求。例如，在摄像头等个人信息采集装置处，设置明确显著的标识告知已进入个人信息采集范围，将会对个人信息进行采集，若个人自愿进入采集范围即视为同意对其个人信息进行采集；或者在个人信息处理的装置上，利用明显的标识/信息告知个人信息处理规则的情况下，通过弹窗信息或请个人自行上传其个人信息等方式获得个人授权；其中，个人信息处理规则可包括个人信息处理者、个人信息处理目的、处理方式以及处理的个人信息种类等信息。
78.以上所述仅为本技术的实施方式，并非因此限制本技术的专利范围，凡是利用本技术说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本技术的专利保护范围内。
技术特征：1.一种图像的坏线检测方法，其特征在于，所述方法包括：获取待处理图像；确定所述待处理图像中的各像素线的像素值分布情况，其中，所述像素线包括形成线段的若干线内像素点，所述像素线的像素值分布情况包括所述若干线内像素点之间的第一像素值差异情况和/或若干线外像素点与所述若干线内像素点之间的第二像素值差异情况，所述线外像素点为所述待处理图像中位于所述像素线的预设像素距离内的像素点；选出所述像素值分布情况满足坏线条件的所述像素线，以作为所述待处理图像中的坏线。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定所述待处理图像中的各像素线的像素值分布情况，包括：对于每条所述像素线，分别将所述像素线上的至少部分线内像素点作为第一当前像素点，获取每个所述第一当前像素点与对应的第一关联像素点之间的像素差值，以得到所述第一像素值差异情况，其中，所述第一当前像素点的第一关联像素点为所述像素线上与所述第一当前像素点间隔第一数量个像素点的所述线内像素点；和/或，对于每条所述像素线，分别将所述像素线上的至少部分线内像素点作为第二当前像素点，获取每个所述第二当前像素点与对应的第二关联像素点之间的像素差值，以得到所述第二像素值差异情况，其中，所述第二当前像素点的第二关联像素点为与所述第二当前像素点间隔第二数量个像素点的所述线外像素点，且所述第二关联像素点与所述第二当前像素点连接形成第一预设方向的线段，所述第一预设方向与所述像素线之间的夹角大于0。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，若所述像素值分布情况包括第一像素值差异情况，则所述坏线条件包括所述像素线上满足第一差异条件的所述第一当前像素点的数量大于第一阈值；和/或，若所述像素值分布情况包括第二像素值差异情况，则所述坏线条件包括所述像素线上满足第二差异条件的所述第二当前像素点的数量大于第二阈值。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述第一当前像素点的第一关联像素点有两个，所述第一差异条件为所述第一当前像素点与其中一个所述第一关联像素点之间的第一像素差值和所述第一当前像素点与另一个所述第一关联像素点之间的第二像素差值的乘积为正数，且所述第一像素差值的绝对值大于第一像素阈值、所述第二像素差值的绝对值大于第二像素阈值；所述第二当前像素点的第二关联像素点有两个，所述第二差异条件为所述第二当前像素点与其中一个所述第二关联像素点之间的第三像素差值大于第三像素阈值、所述第二当前像素点与另一个所述第二关联像素点之间的第四像素差值大于第四像素阈值，且所述第三像素差值的绝对值小于第五像素阈值、所述第四像素差值的绝对值小于第六像素阈值；或者，所述第三像素差值小于所述第三像素阈值的相反数、所述第四像素差值小于所述第四像素阈值的相反数，且所述第三像素差值的绝对值小于第五像素阈值、所述第四像素差值的绝对值小于第六像素阈值。5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述第一阈值和所述第二阈值中的至少一者是基于所述待处理图像的分辨率确定的；和/或，若所述像素值分布情况包括第一像素值差异情况，则所述坏线条件包括所述像
素线上的目标像素点的数量大于所述第一阈值，所述目标像素点为满足所述第一差异条件和预设分布条件的所述第一当前像素点，所述预设分布条件为所述目标像素点与至少部分其他所述目标像素点连续分布达到预设长度。6.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述第一预设方向与所述像素线垂直。7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，若所述像素值分布情况包括所述第二像素值差异情况，在确定所述待处理图像中的各像素线的第二像素值差异情况之前，所述方法还包括：对所述待处理图像进行第二预设方向的均值滤波处理，所述第二预设方向为所述像素线的延伸方向。8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述选出所述像素值分布情况满足坏线条件的所述像素线，以作为所述待处理图像中的坏线之后，所述方法还包括：利用位于所述坏线的预设位置的非坏线，替换所述坏线。9.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述像素线为像素列或像素行，和/或，所述待处理图像为红外热成像图像。10.一种图像的坏线检测设备，其特征在于，所述图像的坏线检测设备包括存储器和处理器，所述存储器存储有程序指令，所述处理器用于执行所述程序指令以实现如权利要求1-9任一项所述的图像的坏线检测方法。11.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质用于存储程序指令，所述程序指令能够被执行以实现如权利要求1-9任一项所述的图像的坏线检测方法。
技术总结本申请公开了一种图像的坏线检测方法、设备和计算机可读存储介质，该方法包括：获取待处理图像；确定待处理图像中的各像素线的像素值分布情况，其中，像素线包括形成线段的若干线内像素点，像素线的像素值分布情况包括若干线内像素点之间的第一像素值差异情况和/或若干线外像素点与若干线内像素点之间的第二像素值差异情况，线外像素点为待处理图像中位于像素线的预设像素距离内的像素点；选出像素值分布情况满足坏线条件的像素线，以作为待处理图像中的坏线。通过上述方式，本申请能够提高坏线检测的准确性。坏线检测的准确性。坏线检测的准确性。
技术研发人员：李骏 陈虹宇 高媛 卢伍平 湛杰 杜庆昌
受保护的技术使用者：浙江华感科技有限公司
技术研发日：2022.06.24
技术公布日：2022/11/1
