1.本技术涉及集成电路测试技术领域，特别是涉及一种无测试向量集成电路产品测试方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。
背景技术：2.集成电路产品在被交付到使用方前会经过种类繁多的测试，以便验证其质量可靠性。集成电路产品的测试项目通常包含直流参数、交流参数、接口参数、功能和应用性能等，其中交直流参数测试需要依赖ate测试系统，其他接口参数、功能、应用性能等测试项目可以在ate测试系统或板级测试系统之间合理选择。由于集成电路产品功能通常较为复杂，为了实现对集成电路产品的测试项目的测试，需要从研发端基于该集成电路产品设计结构及功能开发测试向量，并转换到ate测试系统中结合程序调用开展测试项目的测试。测试向量是ate测试系统对集成电路产品的测试项目进行测试的重要前提和基础。
3.相关技术中，对于需要依赖测试向量才能完成测试的目标测试项目，通常基于集成电路产品研制厂商的测试向量，完成对待测集成电路产品的目标测试项目的测试。具体地，通过ate测试系统将研制厂商的测试向量下载到待测集成电路产品，从而开展测试，所有测试流程及测试向量的配置由ate测试系统控制和完成。但是随着集成电路产品国产化的推进以及市场应用需求的日益增大，越来越多的集成电路产品需要由使用方、第三方或者非自主研发的研制厂商开展测试，由于存在集成电路产品研制厂商不愿提供或者不能提供测试向量的情况，在此情况下，则使用方、第三方或者非自主研发的研制厂商将难以完成对集成电路产品的测试项目的完整测试。
技术实现要素：4.基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够在集成电路产品研制厂商不愿提供或者不能提供测试向量的情况下，实现对缺乏测试向量的测试项目的测试的无测试向量集成电路产品测试方法、装置、计算机设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品。
5.第一方面，本技术提供了一种无测试向量集成电路产品测试方法。所述方法应用于ate测试系统，该ate测试系统包括ate测试板，该ate测试板包括存储模块；所述方法包括：
6.针对从属于目标集成电路产品且依赖于测试向量的目标测试项目，获取目标测试项目的功能测试用例，并将所有功能测试用例存储于存储模块中；
7.确定目标集成电路产品的当前待测测试项目；
8.判断当前待测测试项目是否是依赖于测试向量的目标测试项目，若是，则从存储模块中调取目标功能测试用例，通过目标功能测试用例对目标集成电路产品进行测试，获得目标集成电路产品的测试结果；
9.根据测试结果，确定当前待测测试项目是否通过测试。
10.在其中一个实施例中，从存储模块中调取目标功能测试用例，通过目标功能测试
用例对目标集成电路产品进行测试，获得目标集成电路产品的测试结果，包括：
11.获取目标功能测试用例的地址；
12.基于地址从存储模块中读取目标功能测试用例，将所读取的目标功能测试用例加载至目标集成电路产品；
13.若加载成功，则向目标集成电路产品配置目标功能测试用例、测试模式、环境测试参数及测试时序，并配置目标功能测试用例；环境测试模式、测试参数及测试时序均基于当前待测测试项目确定；
14.基于配置的目标功能测试用例、测试模式、环境测试参数及测试时序，对目标集成电路产品进行测试，获得测试结果。
15.在其中一个实施例中，ate测试板还包括开关切换阵列；将所读取的目标功能测试用例加载至目标集成电路产品，包括：
16.基于开关切换阵列，获取测试路径；
17.按照测试路径，将所读取的目标功能测试用例加载至目标集成电路产品。
18.在其中一个实施例中，判断当前待测测试项目是否是依赖于测试向量的目标测试项目之后，还包括：
19.若否，则向目标集成电路产品配置默认的测试模式、环境测试参数及测试时序；基于默认的测试模式、环境测试参数及测试时序，对目标集成电路产品进行测试，获得目标集成电路产品的测试结果。
20.在其中一个实施例中，根据测试结果，确定当前待测测试项目是否通过测试，包括：
21.判断测试结果与预设测试结果是否匹配，若匹配，则当前待测测试项目通过测试，若否，则当前待测测试项目测试不通过。
22.在其中一个实施例中，获取目标测试项目的功能测试用例，包括：
23.对目标集成电路产品的数据手册及设计规范文件进行内容提取，获得目标测试项目的功能测试用例。
24.第二方面，本技术还提供了一种无测试向量集成电路产品测试装置。所述装置包括：
25.获取模块，用于针对从属于目标集成电路产品且依赖于测试向量的目标测试项目，获取目标测试项目的功能测试用例，并将所有功能测试用例存储于存储模块中；
26.第一确定模块，用于确定目标集成电路产品的当前待测测试项目；
27.判断模块，用于判断当前待测测试项目是否是依赖于测试向量的目标测试项目，若是，则从存储模块中调取目标功能测试用例，通过目标功能测试用例对目标集成电路产品进行测试，获得目标集成电路产品的测试结果；
28.第二确定模块，用于根据测试结果，确定当前待测测试项目是否通过测试。
29.第三方面，本技术还提供了一种计算机设备。所述计算机设备包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现以下步骤：
30.针对从属于目标集成电路产品且依赖于测试向量的目标测试项目，获取目标测试项目的功能测试用例，并将所有功能测试用例存储于存储模块中；
31.确定目标集成电路产品的当前待测测试项目；
32.判断当前待测测试项目是否是依赖于测试向量的目标测试项目，若是，则从存储模块中调取目标功能测试用例，通过目标功能测试用例对目标集成电路产品进行测试，获得目标集成电路产品的测试结果；
33.根据测试结果，确定当前待测测试项目是否通过测试。
34.第四方面，本技术还提供了一种计算机可读存储介质。所述计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：
35.针对从属于目标集成电路产品且依赖于测试向量的目标测试项目，获取目标测试项目的功能测试用例，并将所有功能测试用例存储于存储模块中；
36.确定目标集成电路产品的当前待测测试项目；
37.判断当前待测测试项目是否是依赖于测试向量的目标测试项目，若是，则从存储模块中调取目标功能测试用例，通过目标功能测试用例对目标集成电路产品进行测试，获得目标集成电路产品的测试结果；
38.根据测试结果，确定当前待测测试项目是否通过测试。
39.第五方面，本技术还提供了一种计算机程序产品。所述计算机程序产品，包括计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：
40.针对从属于目标集成电路产品且依赖于测试向量的目标测试项目，获取目标测试项目的功能测试用例，并将所有功能测试用例存储于存储模块中；
41.确定目标集成电路产品的当前待测测试项目；
42.判断当前待测测试项目是否是依赖于测试向量的目标测试项目，若是，则从存储模块中调取目标功能测试用例，通过目标功能测试用例对目标集成电路产品进行测试，获得目标集成电路产品的测试结果；
43.根据测试结果，确定当前待测测试项目是否通过测试。
44.上述无测试向量集成电路产品测试方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品，通过针对从属于目标集成电路产品且依赖于测试向量的目标测试项目，获取目标测试项目的功能测试用例，并将所有功能测试用例存储于存储模块中；确定目标集成电路产品的当前待测测试项目；判断当前待测测试项目是否是依赖于测试向量的目标测试项目，若是，则从存储模块中调取目标功能测试用例，通过目标功能测试用例对目标集成电路产品进行测试，获得目标集成电路产品的测试结果；根据测试结果，确定当前待测测试项目是否通过测试。由于获取依赖于测试向量的目标测试项目的功能测试用例，并将所有功能测试用例存储于存储模块中，在对依赖于测试向量的目标测试项目进行测试时，合理调用目标测试项目的功能测试用例，从而在集成电路产品研制厂商不愿提供或者不能提供测试向量的情况下，实现对缺乏测试向量的测试项目的测试，且测试的灵活性强。
附图说明
45.图1为一个实施例中无测试向量集成电路产品测试方法的流程示意图；
46.图2为一个实施例中无测试向量集成电路产品测试方法中对测试项目进行测试的流程示意图；
47.图3为一个实施例中无测试向量集成电路产品测试方法的流程示意图；
48.图4为另一个实施例中无测试向量集成电路产品测试方法中当前待测测试项目的
测试流程示意图；
49.图5为一个实施例中无测试向量集成电路产品测试方法中ate测试板的结构框图；
50.图6为另一个实施例中无测试向量集成电路产品测试方法的流程示意图；
51.图7为一个实施例中无测试向量集成电路产品测试装置的结构框图；
52.图8为一个实施例中计算机设备的内部结构图。
具体实施方式
53.为了使本技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本技术进行进一步详细说明。应当理解，此处描述的具体实施例仅仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。
54.集成电路产品在被交付到使用方前会经过种类繁多的测试，以便验证其质量可靠性。集成电路产品的测试项目通常包含直流参数、交流参数、接口参数、功能和应用性能等，其中交直流参数测试需要依赖ate测试系统，其他接口参数、功能、应用性能等测试项目可以在ate测试系统或板级测试系统之间合理选择。由于集成电路产品功能通常较为复杂，为了实现对集成电路产品的测试项目的测试，需要从研发端基于该集成电路产品设计结构及功能开发测试向量，并转换到ate测试系统中结合程序调用开展测试项目的测试。测试向量是ate测试系统对集成电路产品的测试项目进行测试的重要前提和基础。
55.相关技术中，对于需要依赖测试向量才能完成测试的目标测试项目，通常基于集成电路产品研制厂商的测试向量，完成对待测集成电路产品的目标测试项目的测试。具体地，通过ate测试系统将研制厂商的测试向量下载到待测集成电路产品，从而开展测试，所有测试流程及测试向量的配置由ate测试系统控制和完成。但是随着集成电路产品国产化的推进以及市场应用需求的日益增大，越来越多的集成电路产品需要由使用方、第三方或者非自主研发的研制厂商开展测试，由于存在集成电路产品研制厂商不愿提供或者不能提供测试向量的情况，在此情况下，则使用方、第三方或者非自主研发的研制厂商将难以完成对集成电路产品的测试项目的完整测试。
56.针对上述相关技术中存在的问题，本发明实施例提供了一种无测试向量集成电路产品测试方法，该方法可以应用于服务器中，也可以应用于终端，还可以应用于包括终端和服务器的系统，并通过终端和服务器的交互实现。其中，服务器可以用独立的服务器或者是多个服务器组成的服务器集群来实现。终端可以但不限于是各种个人计算机、笔记本电脑、智能手机、平板电脑、物联网设备和便携式可穿戴设备，物联网设备可为智能音箱、智能电视、智能空调、智能车载设备等。便携式可穿戴设备可为智能手表、智能手环、头戴设备等。需要说明的是，本技术各实施例中提及的“多个”等的数量均指代“至少两个”的数量，比如，“多个”指“至少两个”。
57.在一个实施例中，如图1所示，提供了一种无测试向量集成电路产品测试方法，本实施例以该方法应用于ate测试系统进行举例说明，ate测试系统包括ate测试板，ate测试板包括存储模块；该方法包括以下步骤：
58.102、针对从属于目标集成电路产品且依赖于测试向量的目标测试项目，获取目标测试项目的功能测试用例，并将所有功能测试用例存储于存储模块中。
59.其中，存储模块可以是非易失性存储器。需要说明的是，存储模块可以按照地址分
块存储所有功能测试用例，在实际应用中，存储模块的具体型号基于目标集成电路产品的测试项目的容量及读写速度进行选取，具体地，存储模块可以是nand flash或nor flash，本技术实施例对此不作具体限定。另外，目标集成电路产品可以为fpga、dsp、mcu、soc及cpu等较为复杂的集成电路芯片。例如，使用方需要对某一fpga芯片进行测试，则目标集成电路产品可以为该fpga芯片。
60.另外，目标集成电路产品的测试项目可以包括直流参数、交流参数、接口参数、功能和应用性能，直流参数可以包括输入电压、输出电压、管脚电流、驱动电压、驱动电流、短路电流及开路电流，交流参数可以包括输入时钟、系统时钟、时间延迟及工作频率，本技术实施例对此不作具体限定。
61.在此情况下，需要说明的是，由于输入电压、输出电压及管脚电流属于不需要依赖于测试向量才能完成测试的直流参数，而驱动电压、驱动电流、短路电流及开路电流属于需要依赖于测试向量才能完成测试的直流参数，输入时钟及系统时钟属于不需要依赖于测试向量完成测试的交流参数，而时间延迟及工作频率属于需要依赖于测试向量才能完成测试的交流参数。因此，为了提高测试效率，在测试前，需要对上述参数进行分类处理，具体地，可以将输入电压、输出电压及管脚电流作为一项测试项目，将驱动电压、驱动电流、短路电流及开路电流作为一项测试项目，将输入时钟及系统时钟作为一项测试项目，将时间延迟及工作频率作为一项测试项目，将功能作为一项测试项目，将应用性能作为一项测试项目。
62.可以理解的是，上述测试项目中，由驱动电压、驱动电流、短路电流及开路电流组成的测试项目、由时间延迟及工作频率组成的测试项目、由功能组成的测试项目及由应用性能组成的测试项目均为依赖于测试向量的目标测试项目，相应地，ate测试系统分别获取每一目标测试项目的功能测试用例。
63.104、确定目标集成电路产品的当前待测测试项目。
64.例如，当前需要对驱动电压、驱动电流、短路电流及开路电流组成的这一项测试项目进行测试，则ate测试系统确定当前待测测试项目为驱动电压、驱动电流、短路电流及开路电流组成的这一测试项目。
65.106、判断当前待测测试项目是否是依赖于测试向量的目标测试项目，若是，则从存储模块中调取目标功能测试用例，通过目标功能测试用例对目标集成电路产品进行测试，获得目标集成电路产品的测试结果。
66.具体地，在步骤106之前，ate测试系统可以根据依赖于测试向量的所有测试项目，建立测试项目库。相应地，判断测试项目库中是否存在与当前待测测试项目匹配的测试项目，若存在，则确定当前待测测试项目是依赖于测试向量的测试项目，若不存在，则确定当前待测测试项目不是依赖于测试向量的测试项目。
67.其中，目标功能测试用例指的是当前待测测试项目的功能测试用例。
68.上述由输入电压、输出电压及管脚电流组成的测试项目，由驱动电压、驱动电流、短路电流及开路电流组成的测试项目、由输入时钟及系统时钟组成的测试项目、由时间延迟及工作频率组成的测试项目及由功能组成的测试项目的测试流程可如图2所示。如图2所示，在对各项测试项目进行测试之前，需要对目标集成电路产品进行连通性测试。
69.108、根据测试结果，确定当前待测测试项目是否通过测试。
70.上述无测试向量集成电路产品测试方法中，通过针对从属于目标集成电路产品且
依赖于测试向量的目标测试项目，获取目标测试项目的功能测试用例，并将所有功能测试用例存储于存储模块中；确定目标集成电路产品的当前待测测试项目；判断当前待测测试项目是否是依赖于测试向量的目标测试项目，若是，则从存储模块中调取目标功能测试用例，通过目标功能测试用例对目标集成电路产品进行测试，获得目标集成电路产品的测试结果；根据测试结果，确定当前待测测试项目是否通过测试。可以理解的是，传统ate功能测试及部分参数测试需要测试向量，而测试向量需要研制单位配合提供，专业性强、与设计单位相关性强。而本技术由于获取依赖于测试向量的目标测试项目的功能测试用例，并将所有功能测试用例存储于存储模块中，在对依赖于测试向量的目标测试项目进行测试时，合理调用目标测试项目的功能测试用例，从而在集成电路产品研制厂商不愿提供或者不能提供测试向量的情况下，实现对缺乏测试向量的测试项目的测试，且测试的灵活性强。
71.在一个实施例中，如图3所示，从存储模块中调取目标功能测试用例，通过目标功能测试用例对目标集成电路产品进行测试，获得目标集成电路产品的测试结果，包括：
72.302、获取目标功能测试用例的地址。
73.其中，存储模块中的每一功能测试用例均有对应的地址，从而ate测试系统可以获取目标功能测试用例的地址。
74.304、基于地址从存储模块中读取目标功能测试用例，将所读取的目标功能测试用例加载至目标集成电路产品。
75.306、若加载成功，则向目标集成电路产品配置目标功能测试用例、测试模式、环境测试参数及测试时序，并配置目标功能测试用例；环境测试模式、测试参数及测试时序均基于当前待测测试项目确定。
76.308、基于配置的目标功能测试用例、测试模式、环境测试参数及测试时序，对目标集成电路产品进行测试，获得测试结果。
77.具体地，当前待测测试项目的测试流程可如图4所示。图4中的测试不通过指的是当前待测测试项目测试不通过，测试通过指的是当前待测测试项目通过测试。如图4所示，在加载目标功能测试用例之前，还可以确定在对当前待测测试项目进行测试时的测试管脚。
78.本实施例中，通过获取目标功能测试用例的地址；基于地址从存储模块中读取目标功能测试用例，将所读取的目标功能测试用例加载至目标集成电路产品；若加载成功，则向目标集成电路产品配置目标功能测试用例、测试模式、环境测试参数及测试时序，并配置目标功能测试用例；环境测试模式、测试参数及测试时序均基于当前待测测试项目确定；基于配置的目标功能测试用例、测试模式、环境测试参数及测试时序，对目标集成电路产品进行测试，获得测试结果。从而在集成电路产品研制厂商不愿提供或者不能提供测试向量的情况下，实现对缺乏测试向量的测试项目的测试，且测试的灵活性强。
79.在一个实施例中，ate测试板还包括开关切换阵列；将所读取的目标功能测试用例加载至目标集成电路产品，包括：
80.基于开关切换阵列，获取测试路径。
81.其中，开关切换阵列的作用可以是为目标集成电路产品的功能测试用例加载和配置提供通路。开关切换阵列的具体实现方式可以是pcb板布线桥接、fpga桥接或者其他的专用配置桥接电路。例如，目标集成电路产品为fpga芯片，则开关切换阵列可以设置为fpga芯
片的配置芯片，以便实现对fpga芯片的功能测试用例的加载和配置。
82.按照测试路径，将所读取的目标功能测试用例加载至目标集成电路产品。
83.具体地，ate测试板的结构框图可以如图5所示，图5中的待测芯片即指代目标集成电路产品，功能1至功能7即指代各项目标测试项目的功能测试用例。
84.本实施例中，通过基于开关切换阵列，获取测试路径；按照测试路径，将所读取的目标功能测试用例加载至目标集成电路产品。从而实现对各项目标测试项目的功能测试用例的选择及加载，满足不同目标测试项目测试时对功能测试用例的配置需求。
85.在一个实施例中，判断当前待测测试项目是否是依赖于测试向量的目标测试项目之后，还包括：
86.若否，则向目标集成电路产品配置默认的测试模式、环境测试参数及测试时序；基于默认的测试模式、环境测试参数及测试时序，对目标集成电路产品进行测试，获得目标集成电路产品的测试结果。
87.本实施例中，在当前待测测试项目不是依赖于测试向量的目标测试项目的情况下，通过向目标集成电路产品配置默认的测试模式、环境测试参数及测试时序；基于默认的测试模式、环境测试参数及测试时序，对目标集成电路产品进行测试，获得目标集成电路产品的测试结果，从而实现对当前待测测试项目的测试。
88.在一个实施例中，根据测试结果，确定当前待测测试项目是否通过测试，包括：
89.判断测试结果与预设测试结果是否匹配，若匹配，则当前待测测试项目通过测试，若否，则当前待测测试项目测试不通过。
90.其中，预设测试结果可以基于当前待测测试项目的设计规范确定。
91.在一个实施例中，获取目标测试项目的功能测试用例，包括：
92.对目标集成电路产品的数据手册及设计规范文件进行内容提取，获得目标测试项目的功能测试用例。
93.本实施例中，通过对目标集成电路产品的数据手册及设计规范文件进行内容提取，从而获得目标测试项目的功能测试用例。
94.如图6所示，提供一种无测试向量集成电路产品测试方法的实施例。该实施例包括：
95.602、针对从属于目标集成电路产品且依赖于测试向量的目标测试项目，对目标集成电路产品的数据手册及设计规范文件进行内容提取，获得目标测试项目的功能测试用例，并将所有功能测试用例存储于存储模块中；
96.604、确定目标集成电路产品的当前待测测试项目；
97.606、判断当前待测测试项目是否是依赖于测试向量的目标测试项目，若是，则获取目标功能测试用例的地址；基于地址从存储模块中读取目标功能测试用例，将所读取的目标功能测试用例加载至目标集成电路产品；若加载成功，则向目标集成电路产品配置目标功能测试用例、测试模式、环境测试参数及测试时序，并配置目标功能测试用例；环境测试模式、测试参数及测试时序均基于当前待测测试项目确定；基于配置的目标功能测试用例、测试模式、环境测试参数及测试时序，对目标集成电路产品进行测试，获得测试结果；
98.608、判断测试结果与预设测试结果是否匹配，若匹配，则当前待测测试项目通过测试，若否，则当前待测测试项目测试不通过。
99.其中，对步骤602至步骤608中涉及的名词及步骤的具体解释可参考上述实施例中对名词及步骤的具体解释。
100.应该理解的是，虽然如上所述的各实施例所涉及的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示，但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明，这些步骤的执行并没有严格的顺序限制，这些步骤可以以其它的顺序执行。而且，如上所述的各实施例所涉及的流程图中的至少一部分步骤可以包括多个步骤或者多个阶段，这些步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成，而是可以在不同的时刻执行，这些步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行，而是可以与其它步骤或者其它步骤中的步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。
101.基于同样的发明构思，本技术实施例还提供了一种用于实现上述所涉及的无测试向量集成电路产品测试方法的集成电路产品测试装置。该装置所提供的解决问题的实现方案与上述方法中所记载的实现方案相似，故下面所提供的一个或多个集成电路产品测试装置实施例中的具体限定可以参见上文中对于无测试向量集成电路产品测试方法的限定，在此不再赘述。
102.在一个实施例中，如图7所示，提供了一种无测试向量集成电路产品测试装置，包括：获取模块702、第一确定模块704、判断模块706和第二确定模块708，其中：
103.获取模块702，用于针对从属于目标集成电路产品且依赖于测试向量的目标测试项目，获取目标测试项目的功能测试用例，并将所有功能测试用例存储于存储模块中；
104.第一确定模块704，用于确定目标集成电路产品的当前待测测试项目；
105.判断模块706，用于判断当前待测测试项目是否是依赖于测试向量的目标测试项目，若是，则从存储模块中调取目标功能测试用例，通过目标功能测试用例对目标集成电路产品进行测试，获得目标集成电路产品的测试结果；
106.第二确定模块708，用于根据测试结果，确定当前待测测试项目是否通过测试。
107.在一个实施例中，判断模块706，包括：
108.获取单元，用于获取目标功能测试用例的地址；
109.加载单元，用于基于地址从存储模块中读取目标功能测试用例，将所读取的目标功能测试用例加载至目标集成电路产品；
110.配置单元，用于若加载成功，则向目标集成电路产品配置目标功能测试用例、测试模式、环境测试参数及测试时序，并配置目标功能测试用例；环境测试模式、测试参数及测试时序均基于当前待测测试项目确定；
111.测试单元，用于基于配置的目标功能测试用例、测试模式、环境测试参数及测试时序，对目标集成电路产品进行测试，获得测试结果。
112.在一个实施例中，加载单元，包括：
113.获取子单元，用于基于开关切换阵列，获取测试路径；
114.加载子单元，用于按照测试路径，将所读取的目标功能测试用例加载至目标集成电路产品。
115.在一个实施例中，该装置还包括：
116.测试模块，用于若否，则向目标集成电路产品配置默认的测试模式、环境测试参数及测试时序；基于默认的测试模式、环境测试参数及测试时序，对目标集成电路产品进行测
试，获得目标集成电路产品的测试结果。
117.在一个实施例中，第二确定模块708，包括：
118.判断单元，用于判断测试结果与预设测试结果是否匹配，若匹配，则当前待测测试项目通过测试，若否，则当前待测测试项目测试不通过。
119.在一个实施例中，获取模块702，包括：
120.提取单元，用于对目标集成电路产品的数据手册及设计规范文件进行内容提取，获得目标测试项目的功能测试用例。
121.上述集成电路产品测试装置中的各个模块可全部或部分通过软件、硬件及其组合来实现。上述各模块可以硬件形式内嵌于或独立于计算机设备中的处理器中，也可以以软件形式存储于计算机设备中的存储器中，以便于处理器调用执行以上各个模块对应的操作。
122.在一个实施例中，提供了一种计算机设备，该计算机设备可以是服务器，其内部结构图可以如图8所示。该计算机设备包括通过系统总线连接的处理器、存储器和网络接口。其中，该计算机设备的处理器用于提供计算和控制能力。该计算机设备的存储器包括非易失性存储介质、内存储器。该非易失性存储介质存储有操作系统、计算机程序和数据库。该内存储器为非易失性存储介质中的操作系统和计算机程序的运行提供环境。该计算机设备的数据库用于存储测试项目、功能测试用例及测试结果数据。该计算机设备的网络接口用于与外部的终端通过网络连接通信。该计算机程序被处理器执行时以实现一种无测试向量集成电路产品测试方法。
123.本领域技术人员可以理解，图8中示出的结构，仅仅是与本技术方案相关的部分结构的框图，并不构成对本技术方案所应用于其上的计算机设备的限定，具体的计算机设备可以包括比图中所示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者具有不同的部件布置。
124.在一个实施例中，提供了一种计算机设备，包括存储器和处理器，存储器中存储有计算机程序，该处理器执行计算机程序时实现以下步骤：
125.针对从属于目标集成电路产品且依赖于测试向量的目标测试项目，获取目标测试项目的功能测试用例，并将所有功能测试用例存储于存储模块中；确定目标集成电路产品的当前待测测试项目；判断当前待测测试项目是否是依赖于测试向量的目标测试项目，若是，则从存储模块中调取目标功能测试用例，通过目标功能测试用例对目标集成电路产品进行测试，获得目标集成电路产品的测试结果；根据测试结果，确定当前待测测试项目是否通过测试。
126.在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：获取目标功能测试用例的地址；基于地址从存储模块中读取目标功能测试用例，将所读取的目标功能测试用例加载至目标集成电路产品；若加载成功，则向目标集成电路产品配置目标功能测试用例、测试模式、环境测试参数及测试时序，并配置目标功能测试用例；环境测试模式、测试参数及测试时序均基于当前待测测试项目确定；基于配置的目标功能测试用例、测试模式、环境测试参数及测试时序，对目标集成电路产品进行测试，获得测试结果。
127.在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：基于开关切换阵列，获取测试路径；按照测试路径，将所读取的目标功能测试用例加载至目标集成电路产品。
128.在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：若否，则向目标集成
电路产品配置默认的测试模式、环境测试参数及测试时序；基于默认的测试模式、环境测试参数及测试时序，对目标集成电路产品进行测试，获得目标集成电路产品的测试结果。
129.在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：判断测试结果与预设测试结果是否匹配，若匹配，则当前待测测试项目通过测试，若否，则当前待测测试项目测试不通过。
130.在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：对目标集成电路产品的数据手册及设计规范文件进行内容提取，获得目标测试项目的功能测试用例。
131.在一个实施例中，提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：
132.针对从属于目标集成电路产品且依赖于测试向量的目标测试项目，获取目标测试项目的功能测试用例，并将所有功能测试用例存储于存储模块中；确定目标集成电路产品的当前待测测试项目；判断当前待测测试项目是否是依赖于测试向量的目标测试项目，若是，则从存储模块中调取目标功能测试用例，通过目标功能测试用例对目标集成电路产品进行测试，获得目标集成电路产品的测试结果；根据测试结果，确定当前待测测试项目是否通过测试。
133.在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：获取目标功能测试用例的地址；基于地址从存储模块中读取目标功能测试用例，将所读取的目标功能测试用例加载至目标集成电路产品；若加载成功，则向目标集成电路产品配置目标功能测试用例、测试模式、环境测试参数及测试时序，并配置目标功能测试用例；环境测试模式、测试参数及测试时序均基于当前待测测试项目确定；基于配置的目标功能测试用例、测试模式、环境测试参数及测试时序，对目标集成电路产品进行测试，获得测试结果。
134.在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：基于开关切换阵列，获取测试路径；按照测试路径，将所读取的目标功能测试用例加载至目标集成电路产品。
135.在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：若否，则向目标集成电路产品配置默认的测试模式、环境测试参数及测试时序；基于默认的测试模式、环境测试参数及测试时序，对目标集成电路产品进行测试，获得目标集成电路产品的测试结果。
136.在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：判断测试结果与预设测试结果是否匹配，若匹配，则当前待测测试项目通过测试，若否，则当前待测测试项目测试不通过。
137.在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：对目标集成电路产品的数据手册及设计规范文件进行内容提取，获得目标测试项目的功能测试用例。
138.在一个实施例中，提供了一种计算机程序产品，包括计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：
139.针对从属于目标集成电路产品且依赖于测试向量的目标测试项目，获取目标测试项目的功能测试用例，并将所有功能测试用例存储于存储模块中；确定目标集成电路产品的当前待测测试项目；判断当前待测测试项目是否是依赖于测试向量的目标测试项目，若是，则从存储模块中调取目标功能测试用例，通过目标功能测试用例对目标集成电路产品进行测试，获得目标集成电路产品的测试结果；根据测试结果，确定当前待测测试项目是否
通过测试。
140.在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：获取目标功能测试用例的地址；基于地址从存储模块中读取目标功能测试用例，将所读取的目标功能测试用例加载至目标集成电路产品；若加载成功，则向目标集成电路产品配置目标功能测试用例、测试模式、环境测试参数及测试时序，并配置目标功能测试用例；环境测试模式、测试参数及测试时序均基于当前待测测试项目确定；基于配置的目标功能测试用例、测试模式、环境测试参数及测试时序，对目标集成电路产品进行测试，获得测试结果。
141.在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：基于开关切换阵列，获取测试路径；按照测试路径，将所读取的目标功能测试用例加载至目标集成电路产品。
142.在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：若否，则向目标集成电路产品配置默认的测试模式、环境测试参数及测试时序；基于默认的测试模式、环境测试参数及测试时序，对目标集成电路产品进行测试，获得目标集成电路产品的测试结果。
143.在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：判断测试结果与预设测试结果是否匹配，若匹配，则当前待测测试项目通过测试，若否，则当前待测测试项目测试不通过。
144.在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：对目标集成电路产品的数据手册及设计规范文件进行内容提取，获得目标测试项目的功能测试用例。
145.本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该计算机程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本技术所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和易失性存储器中的至少一种。非易失性存储器可包括只读存储器(read-only memory，rom)、磁带、软盘、闪存或光存储器等。易失性存储器可包括随机存取存储器(random access memory，ram)或外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限，ram可以是多种形式，比如静态随机存取存储器(static random access memory，sram)或动态随机存取存储器(dynamic random access memory，dram)等。
146.以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
147.以上所述实施例仅表达了本技术的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本技术构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本技术的保护范围。因此，本技术专利的保护范围应以所附权利要求为准。
技术特征：1.一种无测试向量集成电路产品测试方法，其特征在于，所述方法应用于ate测试系统，所述ate测试系统包括ate测试板，所述ate测试板包括存储模块；所述方法包括：针对从属于目标集成电路产品且依赖于测试向量的目标测试项目，获取所述目标测试项目的功能测试用例，并将所有功能测试用例存储于所述存储模块中；确定所述目标集成电路产品的当前待测测试项目；判断所述当前待测测试项目是否是依赖于测试向量的目标测试项目，若是，则从所述存储模块中调取目标功能测试用例，通过所述目标功能测试用例对所述目标集成电路产品进行测试，获得所述目标集成电路产品的测试结果；根据所述测试结果，确定所述当前待测测试项目是否通过测试。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述从所述存储模块中调取目标功能测试用例，通过所述目标功能测试用例对所述目标集成电路产品进行测试，获得所述目标集成电路产品的测试结果，包括：获取所述目标功能测试用例的地址；基于所述地址从所述存储模块中读取所述目标功能测试用例，将所读取的所述目标功能测试用例加载至所述目标集成电路产品；若加载成功，则向所述目标集成电路产品配置目标功能测试用例、测试模式、环境测试参数及测试时序，并配置所述目标功能测试用例；所述环境测试模式、所述测试参数及所述测试时序均基于所述当前待测测试项目确定；基于配置的目标功能测试用例、测试模式、环境测试参数及测试时序，对所述目标集成电路产品进行测试，获得所述测试结果。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述ate测试板还包括开关切换阵列；所述将所读取的所述目标功能测试用例加载至所述目标集成电路产品，包括：基于所述开关切换阵列，获取测试路径；按照所述测试路径，将所读取的所述目标功能测试用例所述加载至所述目标集成电路产品。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述判断所述当前待测测试项目是否是依赖于测试向量的目标测试项目之后，还包括：若否，则向所述目标集成电路产品配置默认的测试模式、环境测试参数及测试时序；基于默认的测试模式、环境测试参数及测试时序，对所述目标集成电路产品进行测试，获得所述目标集成电路产品的测试结果。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述测试结果，确定所述当前待测测试项目是否通过测试，包括：判断所述测试结果与预设测试结果是否匹配，若匹配，则所述当前待测测试项目通过测试，若否，则所述当前待测测试项目测试不通过。6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取所述目标测试项目的功能测试用例，包括：对所述目标集成电路产品的数据手册及设计规范文件进行内容提取，获得所述目标测试项目的功能测试用例。7.一种无测试向量集成电路产品测试装置，其特征在于，所述装置包括：
获取模块，用于针对从属于目标集成电路产品且依赖于测试向量的目标测试项目，获取所述目标测试项目的功能测试用例，并将所有功能测试用例存储于所述存储模块中；第一确定模块，用于确定所述目标集成电路产品的当前待测测试项目；判断模块，用于判断所述当前待测测试项目是否是依赖于测试向量的目标测试项目，若是，则从所述存储模块中调取目标功能测试用例，通过所述目标功能测试用例对所述目标集成电路产品进行测试，获得所述目标集成电路产品的测试结果；第二确定模块，用于根据所述测试结果，确定所述当前待测测试项目是否通过测试。8.一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至6中任一项所述的方法的步骤。9.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至6中任一项所述的方法的步骤。10.一种计算机程序产品，包括计算机程序，其特征在于，该计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至6中任一项所述的方法的步骤。
技术总结本申请涉及一种无测试向量集成电路产品测试方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。所述方法包括：针对从属于目标集成电路产品且依赖于测试向量的目标测试项目，获取目标测试项目的功能测试用例，并将所有功能测试用例存储于存储模块中；确定目标集成电路产品的当前待测测试项目；判断当前待测测试项目是否是依赖于测试向量的目标测试项目，若是，则从存储模块中调取目标功能测试用例，通过目标功能测试用例对目标集成电路产品进行测试，获得目标集成电路产品的测试结果；根据测试结果，确定当前待测测试项目是否通过测试。从而在集成电路产品研制厂商不愿提供或者不能提供测试向量的情况下，实现对缺乏测试向量的测试项目的测试。量的测试项目的测试。量的测试项目的测试。
技术研发人员：胡湘洪 罗军 李军求 唐锐 罗道军
受保护的技术使用者：中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室））
技术研发日：2022.07.14
技术公布日：2022/11/1
