本发明涉及具备样品测定机构的自动分析装置的数据处理技术。
背景技术：
1、作为本技术领域的背景技术，作为减少叠加在样品的测定数据上的具有随机性的噪声的方法，已知一种通过在一定时间内测定样品并对所获取到的数据进行积分或平均化处理来去除叠加在测定信号上的具有随机性的噪声的方法。
2、此外，作为减少叠加在样品的测定数据上的具有周期性的噪声的方法，在专利文献1的摘要中记载了“能够在不延迟该测定信号的情况下可靠地去除叠加在测定信号上的周期性噪声”和“第一噪声频率检测部1对测定信号进行fft处理，并检测周期性噪声信号的频率作为第一检测频率。噪声信号分析部5求出这些第一检测频率与测定信号之间的互相关函数，并基于该互相关函数来运算在获得该互相关函数的时间点之后叠加在测定信号上的周期性噪声信号的振幅和相位。消除信号生成部7根据与周期性噪声信号相关的第一检测频率、振幅和相位来生成消除信号。信号消除部3运算这些测定信号和消除信号，并消除其周期性噪声信号”。
3、此外，在下面的专利文献2的摘要中记载了“提供一种质量分析装置用数据收集系统，其能够去除系统噪声来获得高质量的质谱，而不使数据收集系统的存储装置大型化，并且不在数据收集系统中内置强大的cpu。”、“在收集从质量分析装置输出的数据进行数据处理的质量分析装置用数据收集系统中，通过获取规定周期量的噪声并从数据中反复地减去该噪声，从而从数据中去除具有周期性的噪声。”。
4、现有技术文献
5、专利文献
6、专利文献1：日本专利特开2002-171183号公报
7、专利文献2：日本专利特开2000-299083号公报
技术实现思路
1、发明所要解决的技术问题
2、然而，在上述技术中，存在希望以更合理的运算器及存储装置的结构来抑制随机噪声和周期噪声的要求。本发明是鉴于上述情况而完成的，其目的在于提供一种自动分析装置的数据处理系统及方法，以在不使cpu及存储器性能大规模化的情况下抑制叠加在所测定的波形上的周期噪声。
3、解决技术问题的技术方案
4、为了解决上述技术问题，本发明提供一种由样品的测定机构得到测定数据的自动分析装置的数据处理系统，其特征在于，根据周期噪声的周期及相位信息来决定积分开始位置，根据所决定的所述积分开始位置进行所述测定数据的积分或平均化，从而抑制所述周期噪声。
5、另外，为了解决上述技术问题，本发明提供一种由样品的测定机构得到测定数据的自动分析装置的数据处理方法，其特征在于，根据周期噪声的周期及相位信息来决定积分开始位置，根据所决定的所述积分开始位置进行所述测定数据的积分或平均化，从而抑制所述周期噪声。
6、发明效果
7、根据本发明，能够在不使cpu及存储器性能大规模化的情况下抑制叠加在所测定的波形上的周期噪声。
1.一种自动分析装置的数据处理系统，该自动分析装置由样品的测定机构得到测定数据，所述数据处理系统的特征在于，
2.如权利要求1所述的自动分析装置的数据处理系统，其特征在于，
3.如权利要求1或2所述的自动分析装置的数据处理系统，其特征在于，
4.如权利要求1或2所述的自动分析装置的数据处理系统，其特征在于，
5.一种自动分析装置的数据处理方法，该自动分析装置由样品的测定机构得到测定数据，所述数据处理方法的特征在于，
6.如权利要求5所述的自动分析装置的数据处理方法，其特征在于，
7.如权利要求5或6所述的自动分析装置的数据处理方法，其特征在于，
8.如权利要求5或6所述的自动分析装置的数据处理方法，其特征在于，
