本发明涉及热敏片生产，尤其涉及一种热敏片电阻寿命的测量方法。
背景技术：
1、在热敏打印机中，其中最重要的组件之一为配置有直线性的发热电阻的热敏打印头。工作时，打印介质通过压辊被按压在热敏片电阻，热敏打印头上的热敏片电阻可根据是否通电而选择性地发热，使与热敏打印头热敏片电阻接触的打印介质发生选择性显色反应。
2、热敏打印头生产完成后，需要对热敏片电阻的寿命进行测量，以使生产完成的热敏打印头的寿命符合要求。现有的测量方法为通过15到30天24小时不间断的打印，验证热敏打印机中的核心部件热敏片电阻的寿命是否符合要求，该种测量方法所消耗的时间较长，且需要很大的成本。因此，本申请提出一种热敏片电阻寿命的测量方法，能够缩短热敏片电阻寿命的测量时间。
技术实现思路
1、针对上述现有技术中的问题，本申请提出了一种热敏片电阻寿命的测量方法，能够缩短热敏片电阻寿命的测量时间。
2、本发明提供一种热敏片电阻寿命的测量方法，所述热敏片电阻寿命的测量方法包括步骤：
3、根据e＝v2/r×t，测量施加工作电压v的标准热敏片电阻r在梯度加压时间t(t1、t2……tn)下所施加的加压能量e(e1、e2……en)，及所对应的电阻阻值变化率α(α1、α2……αn)；
4、根据所施加的加压能量e(e1、e2……en)及所对应的电阻阻值变化率α(α1、α2……αn)绘制电阻阻值变化率α与加压能量e的关系曲线图；
5、根据所绘制的电阻阻值变化率α与加压能量e的关系曲线图，确定当标准热敏片电阻r的电阻阻值变化率α为预设阈值时所对应的加压能量e阈；
6、测量待测热敏片电阻r的电阻阻值变化率β为预设阈值时所对应的加压能量e阈，当待测热敏片电阻r的加压能量e阈大于或等于标准热敏片电阻r的加压能量e阈时，则判定待测热敏片电阻r的寿命合格。
7、上述的热敏片电阻寿命的测量方法，进一步的，所述预设阈值为10％至20％。
8、上述的热敏片电阻寿命的测量方法，进一步的，所述梯度加压时间t(t1、t2……tn)＝单次梯度加压时间t(t1、t2……tn)×加压次数n。
9、上述技术特征可以各种适合的方式组合或由等效的技术特征来替代，只要能够达到本发明的目的。
10、本发明提供的一种热敏片电阻寿命的测量方法，与现有技术相比，至少具备有以下有益效果：首先根据e＝v2/r×t，测量施加工作电压v的标准热敏片电阻r在梯度加压时间t(t1、t2……tn)下所施加的加压能量e(e1、e2……en)，及所对应的电阻阻值变化率α(α1、α2……αn)；然后根据所施加的加压能量e(e1、e2……en)及所对应的电阻阻值变化率α(α1、α2……αn)绘制电阻阻值变化率α与加压能量e的关系曲线图；根据所绘制的电阻阻值变化率α与加压能量e的关系曲线图，确定当标准热敏片电阻r的电阻阻值变化率α为预设阈值时所对应的加压能量e阈；最后，测量待测热敏片电阻r的电阻阻值变化率β为预设阈值时所对应的加压能量e阈，当待测热敏片电阻r的加压能量e阈大于或等于标准热敏片电阻r的加压能量e阈时，则判定待测热敏片电阻r的寿命合格。
11、当待测热敏片电阻r的加压能量e阈大于或等于标准热敏片电阻r的加压能量e阈时，即当测量待测热敏片电阻r的电阻阻值变化率β为预设阈值时，工作电压v的加压能量e阈大于或等于标准热敏片电阻r的加压能量e阈，在同样的电阻阻值变化率的情况下，加压能量越大，电阻的使用寿命越长，因此判定待测热敏片电阻r的寿命合格。
12、该种热敏片电阻寿命的测量方法，可以连续对待测热敏片电阻r进行加压测试，因此可以将现有的测试时间从15到30天，缩短到1小时以内，从而缩短热敏片电阻寿命的测量时间。
13、为使本发明的上述目的、特征和优点能更明显和易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附附图，做详细说明如下。
1.一种热敏片电阻寿命的测量方法，其特征在于，所述热敏片电阻寿命的测量方法包括步骤：
2.根据权利要求1所述的热敏片电阻寿命的测量方法，其特征在于，所述预设阈值为10％至20％。
3.根据权利要求1所述的热敏片电阻寿命的测量方法，其特征在于，所述梯度加压时间t(t1、t2……tn)＝单次梯度加压时间t(t1、t2……tn)×加压次数n。
