本技术涉及工装夹具，尤其涉及一种半导体器件用碰撞试验固定装置。
背景技术：
1、半导体器件需要经过一系列试验才能确保其可靠性，在军用方面要求更为严苛，因此对试验质量要求较高。在进行碰撞试验时，由于半导体器件体积小、重量轻，半导体器件无法直接与碰撞设备相连，需要通过工装夹具将其固定在碰撞台面上，以保证进行碰撞时器件的稳定性。
2、传统的工装夹具通常采用上、下两块盖板，在下盖板上设置与器件尺寸相匹配的凹槽，再将上盖板盖合在下盖板上，上、下盖板通过螺栓连接固定，最后再将夹具本体与冲击设备相连，即可进行器件的碰撞实验。
3、然而，传统的工装夹具为了增加实验效率，需要设置多个凹槽，才能一次性对多个器件进行碰撞实验，但是器件本身会具有一定的轻微的尺寸差异，器件摆放进凹槽的时候可能会出现过紧的情况，强行取放时可能对器件表面造成相应的划痕及损伤，使得器件在碰撞试验过程中取放不便。
技术实现思路
1、有鉴于此，本实用新型的目的是提供一种半导体器件用碰撞试验固定装置，以解决现有的半导体器件在碰撞试验过程中取放不便的问题。
2、本实用新型通过以下技术手段解决上述技术问题：一种半导体器件用碰撞试验固定装置，包括夹具本体，所述夹具本体位于夹具本体宽度方向的侧面中部沿夹具本体长度方向设置有供器件放入的定位槽，所述夹具本体位于夹具本体宽度方向的侧面设置有用于抵紧器件的夹紧块，所述夹具本体与碰撞设备之间设置有锁紧件。
3、进一步地，所述夹具本体包括沿水平方向对称设置的第一夹具和第二夹具，所述第一夹具、第二夹具的截面均为u型，所述第一夹具、第二夹具以开口相对的方式布置，所述第一夹具、第二夹具的凹腔共同组成定位槽，所述第一夹具和第二夹具之间设置有固定件。
4、进一步地，所述第一夹具底部设置有第一延伸板，所述第二夹具底部设置有第二延伸板，所述第一延伸板和第二延伸板并排设置且沿水平方向长度可调，所述第一延伸板上设置有用于连接第二延伸板的凸起部，所述第二延伸板上设置有与凸起部配合的凹部，所述凸起部设置有供固定件通过的过孔，所述凹部的两侧壁上对称设置有供固定件通过且固定件固定位置可调的调节孔，所述固定件依次穿过调节孔和过孔。
5、进一步地，所述第一夹具和第二夹具均设置有调节组件，所述调节组件包括调节件和压板，所述第一夹具和第二夹具顶部的翼板中部均开设有供调节件通过的螺纹孔，所述压板与第一夹具/第二夹具的翼板平行，所述压板沿竖直方向滑动并安装于所对应的夹具凹腔内，所述压板的上表面设置有供调节件插入的连接孔，所述调节件一端穿过螺纹孔后插入连接孔内，与压板转动连接。
6、进一步地，所述夹紧块为两个，两个所述夹紧块分别位于夹具本体两端的端面处，所述夹紧块包括可拆卸连接于第一夹具端面的第一夹块和可拆卸连接于第二夹具端面的第二夹块，所述第一夹块和第二夹块沿水平方向并排布置。
7、进一步，所述第一夹块上设置有伸入第一夹具凹腔内的第一延伸块，所述第二夹块上设置有伸入第二夹具凹腔内的第二延伸块。
8、进一步地，所述夹具本体的底部两侧对称设置有若干个支耳，每个所述支耳上均开设有供锁紧件通过的安装孔。
9、本实用新型的有益效果：
10、将多个半导体器件依次从夹具本体的侧面放入定位槽内，多个器件自身侧面相抵，再通过夹紧块封堵定位槽，并与最边缘的器件侧面相抵，对多个器件完成定位，在通过锁紧件，将夹具本体连接固定在碰撞设备上，即可进行半导体器件的碰撞实验，试验完成后，通过锁紧件取下夹具本体，打开夹紧块，然后依次倒出器件即可。结构简单，操作方便，一次性可对多个器件进行碰撞试验，器件取放方便。
1.一种半导体器件用碰撞试验固定装置，其特征在于：包括夹具本体(1)，所述夹具本体(1)位于夹具本体(1)宽度方向的侧面中部沿夹具本体(1)长度方向设置有供器件放入的定位槽(4)，所述夹具本体(1)位于夹具本体(1)宽度方向的侧面设置有用于抵紧器件的夹紧块，所述夹具本体(1)与碰撞设备之间设置有锁紧件。
2.根据权利要求1所述的一种半导体器件用碰撞试验固定装置，其特征在于：所述夹具本体(1)包括沿水平方向对称设置的第一夹具(2)和第二夹具(3)，所述第一夹具(2)、第二夹具(3)的截面均为u型，所述第一夹具(2)、第二夹具(3)以开口相对的方式布置，所述第一夹具(2)、第二夹具(3)的凹腔共同组成定位槽(4)，所述第一夹具(2)和第二夹具(3)之间设置有固定件(5)。
3.根据权利要求2所述的一种半导体器件用碰撞试验固定装置，其特征在于：所述第一夹具(2)底部设置有第一延伸板(6)，所述第二夹具(3)底部设置有第二延伸板(7)，所述第一延伸板(6)和第二延伸板(7)并排设置且沿水平方向长度可调，所述第一延伸板(6)上设置有用于连接第二延伸板(7)的凸起部(8)，所述第二延伸板(7)上设置有与凸起部(8)配合的凹部(9)，所述凸起部(8)设置有供固定件(5)通过的过孔，所述凹部(9)的两侧壁上对称设置有供固定件(5)通过且固定件(5)固定位置可调的调节孔(10)，所述固定件(5)依次穿过调节孔(10)和过孔。
4.根据权利要求2所述的一种半导体器件用碰撞试验固定装置，其特征在于：所述第一夹具(2)和第二夹具(3)均设置有调节组件，所述调节组件包括调节件(11)和压板(12)，所述第一夹具(2)和第二夹具(3)顶部的翼板中部均开设有供调节件(11)通过的螺纹孔，所述压板(12)与第一夹具(2)/第二夹具(3)的翼板平行，所述压板(12)沿竖直方向滑动并安装于所对应的夹具凹腔内，所述压板(12)的上表面设置有供调节件(11)插入的连接孔，所述调节件(11)一端穿过螺纹孔后插入连接孔内，与压板(12)转动连接。
5.根据权利要求2所述的一种半导体器件用碰撞试验固定装置，其特征在于：所述夹紧块为两个，两个所述夹紧块分别位于夹具本体(1)两端的端面处，所述夹紧块包括可拆卸连接于第一夹具(2)端面的第一夹块(13)和可拆卸连接于第二夹具(3)端面的第二夹块(14)，所述第一夹块(13)和第二夹块(14)沿水平方向并排布置。
6.根据权利要求5所述的一种半导体器件用碰撞试验固定装置，其特征在于：所述第一夹块(13)上设置有伸入第一夹具(2)凹腔内的第一延伸块，所述第二夹块(14)上设置有伸入第二夹具(3)凹腔内的第二延伸块。
7.根据权利要求1所述的一种半导体器件用碰撞试验固定装置，其特征在于：所述夹具本体(1)的底部两侧对称设置有若干个支耳(17)，每个所述支耳(17)上均开设有供锁紧件通过的安装孔(18)。
