外挂芯片测试系统和外挂芯片测试方法与流程

专利2025-12-25  9


本发明涉及芯片测试,尤其涉及一种外挂芯片测试系统和外挂芯片测试方法。


背景技术:

1、对于智能手机、手表等嵌入式设备,为了扩展其通信功能,如蜂窝通信功能、短距离通信功能、卫星通信功能、专网通信功能等,通常会在嵌入式设备上通过外挂一颗通信芯片来实现。

2、然而由于嵌入式设备上硬件器件,如pcb(印刷电路板)、rf(射频)器件、晶振等的个体差异,使得在嵌入式设备的产线上都需要对外挂的通信芯片进行测试,以保证外挂的通信芯片具备良好的射频收发性能。

3、但由于嵌入式设备上的硬件面积、成本等因素,一般不会为外挂的通信芯片预留专门的usb/uart端口。所以,需要制作特殊的夹具,或者硬件飞线,以使上位机与外挂的通信芯片进行连接。如此既不方便操作,同时在嵌入式设备的测试产线上也需要为外挂的通信芯片增加专门的工位,以对外挂的通信芯片进行校准综测,从而会影响测试产线的成本和测试效率。


技术实现思路

1、为解决上述问题,本发明提供的外挂芯片测试系统和外挂芯片测试方法,通过主控芯片将测试设备与外挂芯片进行通信连接,能够有效地降低外挂芯片测试的复杂度以及测试产线的成本,并提高了测试设备的测试效率。

2、第一方面,本发明提供一种外挂芯片测试系统,系统包括:测试设备、主控芯片和外挂芯片;

3、外挂芯片与测试设备分别与主控芯片通信连接,测试设备通过主控芯片对外挂芯片进行测试。

4、可选地,测试设备上设置有第一物理接口,第一物理接口支持主控芯片的通讯协议;

5、测试设备通过第一物理接口与主控芯片通信连接,以通过主控芯片的通讯协议与外挂芯片进行数据的交互。

6、可选地,主控芯片对测试设备发送给外挂芯片的测试数据进行解析,并将解析后的测试数据转发给外挂芯片;

7、外挂芯片根据解析后的测试数据完成测试操作后,向主控芯片发送回复信息;

8、主控芯片将回复信息进行封装,并将封装后的回复信息通过第一物理接口发送给测试设备。

9、可选地,通讯协议包括诊断协议;

10、第一物理接口包括:usb接口或uart接口。

11、可选地,测试设备的设备管理清单上枚举出一个虚拟接口,虚拟接口对应测试设备上的外部接口,测试设备通过外部接口与主控芯片通信连接;

12、测试设备通过虚拟接口对应的外部接口向主控芯片发送测试数据;

13、主控芯片通过外部接口接收测试设备发送的测试数据,并将测试数据透传给外挂芯片;

14、外挂芯片根据测试数据完成测试操作后,将回复信息透传给主控芯片,以使主控芯片通过虚拟接口将回复信息转发至测试设备。

15、可选地,设备管理清单上还枚举有第二物理接口,测试设备通过第二物理接口对主控芯片进行测试。

16、可选地,外挂芯片上设置有内连接口,内连接口包括usb接口、uart接口、spi接口、sdio接口和pcie接口中的至少一种;

17、外挂芯片通过内连接口与主控芯片通信连接。

18、第二方面,本发明提供一种外挂芯片测试方法,方法包括:

19、测试设备通过测试设备上的第一物理接口将测试数据发送至主控芯片,第一物理接口支持主控芯片的通讯协议;

20、主控芯片对测试数据进行解析;

21、将解析后的测试数据发送至外挂芯片,以使外挂芯片根据解析后的测试数据完成测试操作。

22、可选地,在将解析后的测试数据发送至外挂芯片的步骤之后,方法还包括:

23、外挂芯片在完成测试操作之后生成回复信息,并向主控芯片发送回复信息;

24、主控芯片将回复信息进行封装,并将封装后的回复信息通过第一物理接口发送给测试设备。

25、第三方面,本发明提供一种外挂芯片测试方法,方法包括:

26、测试设备在设备管理清单上枚举出一虚拟接口,虚拟接口对应测试设备上的外部接口;

27、测试设备通过外部接口将测试数据发送至主控芯片;

28、主控芯片将测试数据透传至外挂芯片;

29、外挂芯片根据测试数据完成测试操作。

30、可选地,在外挂芯片根据测试数据完成测试操作的步骤之后,方法还包括:

31、外挂芯片在完成测试操作之后生成回复信息,并将回复信息透传给主控芯片;

32、主控芯片将回复信息转发给测试设备。

33、本发明实施例提供的外挂芯片测试系统和外挂芯片测试方法,通过主控芯片将测试设备与外挂芯片进行通信连接,使得外挂芯片可向测试设备提供更为丰富的接口,同时在测试产线上可借用用于固定主控芯片主控芯片的夹具,并借用主控芯片与测试设备的连接关系对外挂芯片进行测试,而无需为外挂芯片制作特殊的夹具,或者进行硬件飞线处理,从而降低外挂芯片测试的复杂度以及测试产线的成本,并提高了测试设备的测试效率。



技术特征:

1.一种外挂芯片测试系统,其特征在于,所述系统包括:测试设备、主控芯片和外挂芯片;

2.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述测试设备上设置有第一物理接口,所述第一物理接口支持所述主控芯片的通讯协议;

3.根据权利要求2所述的系统,其特征在于,所述主控芯片对所述测试设备发送给所述外挂芯片的测试数据进行解析,并将解析后的测试数据转发给所述外挂芯片;

4.根据权利要求2所述的系统,其特征在于,所述通讯协议包括诊断协议;

5.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述测试设备的设备管理清单上枚举出一个虚拟接口,所述虚拟接口对应所述测试设备上的外部接口,所述测试设备通过所述外部接口与所述主控芯片通信连接;

6.根据权利要求5所述的系统,其特征在于,所述设备管理清单上还枚举有第二物理接口,所述测试设备通过所述第二物理接口对所述主控芯片进行测试。

7.根据权利要求1至6中任一项所述的系统,其特征在于,所述外挂芯片上设置有内连接口,所述内连接口包括usb接口、uart接口、spi接口、sdio接口和pcie接口中的至少一种;

8.一种外挂芯片测试方法,其特征在于,所述方法包括:

9.根据权利要求8所述的方法,其特征在于,在所述将解析后的所述测试数据发送至所述外挂芯片的步骤之后,所述方法还包括:

10.一种外挂芯片测试方法,其特征在于,所述方法包括:

11.根据权利要求10所述的方法,其特征在于,在所述外挂芯片根据所述测试数据完成测试操作的步骤之后,所述方法还包括:


技术总结
本发明提供一种外挂芯片测试系统和外挂芯片测试方法,其中外挂芯片测试系统包括:测试设备、主控芯片和外挂芯片;外挂芯片与测试设备分别与主控芯片通信连接,测试设备通过主控芯片对外挂芯片进行测试。本发明能够降低外挂芯片测试的复杂度以及测试产线的成本,并提高测试设备的测试效率。

技术研发人员:张飞,王维强,黄银辉
受保护的技术使用者:归芯科技(深圳)有限公司
技术研发日:
技术公布日:2024/11/11
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