本发明涉及射频开关寿命检测，特别涉及一种用于射频开关的寿命检测系统。
背景技术：
1、继电器是一种电控制器件，当输入量的变化达到既定要求时，输出电路中的被控量会发生预定的阶跃变化，利用多个继电器配合一定的射频结构可以实现单刀多掷的射频继电器开关。
2、射频继电器开关(以下简称射频开关)的一个重要指标是寿命，其寿命直接决定了整个设备/系统的可靠性；而射频开关的寿命多达上百万次，寿命测试需要耗费大量的人力和物力，为了方便对射频开关的寿命进行检测，特别有必要提出一种用于射频开关的寿命检测系统。
技术实现思路
1、本发明所要解决的技术问题是：提供一种用于射频开关的寿命检测系统，用于模拟射频开关控制的功能，实现射频开关的通道切换，提高自动化程度，便于测试射频开关的射频性能。
2、为了解决上述技术问题，本发明采用的技术方案为：
3、一种用于射频开关的寿命检测系统，包括第一半导体开关、第二半导体开关、第三半导体开关、第四半导体开关和第五半导体开关；
4、所述第一半导体开关的不动端与外设的设备信源输入端口电连接，所述第二半导体开关的不动端与外设的设备信源输出端口电连接，所述第一半导体开关的第一动端与第三半导体开关的不动端电连接，所述第一半导体开关的第二动端与第四半导体开关的不动端电连接，所述第一半导体开关的第三动端与第五半导体开关的不动端电连接；
5、所述第三半导体开关的动端与待测件内的第一射频开关的动端电连接，所述第四半导体开关的动端与待测件内的第二射频开关的动端电连接，所述第五半导体开关的动端与待测件内的第三射频开关的动端电连接，所述第一射频开关的不动端与第二半导体开关的第一动端电连接，所述第二射频开关的不动端与第二半导体开关的第二动端电连接，所述第三射频开关的不动端与第二半导体开关的第三动端电连接。
6、本发明的有益效果在于：
7、本方案通过设置第一半导体开关、第二半导体开关、第三半导体开关、第四半导体开关和第五半导体开关，第一半导体开关的不动端与外设的设备信源输入端口电连接，第二半导体开关的不动端与外设的设备信源输出端口电连接，第一半导体开关的第一动端与第三半导体开关的不动端电连接，第一半导体开关的第二动端与第四半导体开关的不动端电连接，第一半导体开关的第三动端与第五半导体开关的不动端电连接，第三半导体开关的动端与待测件内的第一射频开关的动端电连接，第四半导体开关的动端与待测件内的第二射频开关的动端电连接，第五半导体开关的动端与待测件内的第三射频开关的动端电连接，第一射频开关的不动端与第二半导体开关的第一动端电连接，第二射频开关的不动端与第二半导体开关的第二动端电连接，第三射频开关的不动端与第二半导体开关的第三动端电连接，这样待测件内射频开关的寿命可以通过各个半导体开关的循环闭合次数来表征，通过模拟射频开关控制的功能，实现射频开关的通道切换，提高自动化程度，便于测试射频开关的射频性能。
1.一种用于射频开关的寿命检测系统，其特征在于，包括第一半导体开关、第二半导体开关、第三半导体开关、第四半导体开关和第五半导体开关；
2.根据权利要求1所述的用于射频开关的寿命检测系统，其特征在于，所述第三半导体开关的类型与第一射频开关的类型相同，所述第四半导体开关的类型与第二射频开关的类型相同，所述第五半导体开关的类型与第三射频开关的类型相同。
3.根据权利要求2所述的用于射频开关的寿命检测系统，其特征在于，所述第三半导体开关与第一射频开关均为单刀六掷的射频开关，所述第四半导体开关与第二射频开关均为单刀八掷的射频开关，所述第五半导体开关与第三射频开关均为单刀十二掷的射频开关。
4.根据权利要求1所述的用于射频开关的寿命检测系统，其特征在于，还包括电源控制模块，所述电源控制模块的输出端分别与待测件内的第一射频开关、第二射频开关和第三射频开关电连接，所述电源控制模块的输入端分别接220v交流电和pc机。
5.根据权利要求1所述的用于射频开关的寿命检测系统，其特征在于，所述设备信源输入端口与设备信源输出端口之间连接有矢量网络分析仪，所述矢量网络分析仪用于测试待测件内的第一射频开关、第二射频开关和第三射频开关的射频性能。
6.根据权利要求1所述的用于射频开关的寿命检测系统，其特征在于，所述第一半导体开关、第二半导体开关、第三半导体开关、第四半导体开关和第五半导体开关的型号均为irfl024n。
