本发明涉及飞针测试机，具体是涉及一种飞针测试机测试方法及系统。
背景技术：
1、电性能检测是pcb在制造过程中必须经过的制程，目前飞针测试机是通过接触方式检测pcb电性能的主流测试设备，目前市场上对飞针测试机的测试要求主要有：精确的运动控制、可靠的电气性能、快速的测试效率和多样的测试能力，而良好的机械结构是实现测试精确率的关键。
2、现有的电性能检测技术欠缺对于待测试产品与飞针测试机探针之间的校准，待测试产品与飞针测试机探针之间的最佳测试角度和最佳测试高度需要多次进行调整，较为麻烦，造成测试效率较低，难以满足工作人员的需求，不利于推广使用。
技术实现思路
1、为解决上述技术问题，提供一种飞针测试机测试方法及系统，本技术方案解决了上述背景技术中提出的现有的电性能检测技术欠缺对于待测试产品与飞针测试机探针之间的校准，待测试产品与飞针测试机探针之间的最佳测试角度和最佳测试高度需要多次进行调整，较为麻烦，造成测试效率较低，难以满足工作人员的需求，不利于推广使用的问题。
2、为达到以上目的，本发明采用的技术方案为：
3、一种飞针测试机测试方法，包括：
4、计算获得探针的几何中心，得到探针的几何中心的初始坐标，探针可在测试机上横向移动或纵向移动预设距离，获取探针的几何中心的移动范围；
5、待测试产品靠近测试机，扫描待测试产品，计算获得待测试产品的几何中心，扫描待测试产品，计算获得待测试产品的至少一个支撑点；
6、生成初级校准区域，生成支撑点识别区，语音引导待测试产品放置在测试机的测试平台上，待测试产品的位置满足于至少一个支撑点均在支撑点识别区内，且待测试产品的几何中心在初级校准区域内；
7、探针在测试机上移动至探针的几何中心与待测试产品的几何中心重合的位置；
8、根据探针和待测试产品，确定最佳测试距离，确定最佳测试角度，测试平台升降至预设高度，测试平台水平旋转最佳测试角度，所述预设高度满足于探针和待测试产品之间距离等于最佳测试距离。
9、优选的，所述计算获得探针的几何中心包括以下步骤：
10、扫描获取探针内侧边缘的第一边界曲线，扫描获取探针外侧边缘的第二边界曲线；
11、在同一个坐标系中生成第一边界曲线和第二边界曲线；
12、沿第一边界曲线均匀取至少一个第一识别点，根据第一识别点的坐标，得出第一识别点的第一拟合函数；
13、沿第二边界曲线均匀取至少一个第二识别点，根据第二识别点的坐标，得出第二识别点的第二拟合函数；
14、使用几何中心公式计算得出探针的几何中心的坐标；
15、几何中心公式如下：
16、；
17、其中，积分区域为第一拟合函数和第一拟合函数围成的区域，v为积分区域面积，x为探针的几何中心的横坐标，y为探针的几何中心的纵坐标，（x，y）为积分区域内点的坐标。
18、优选的，所述获取探针的几何中心的移动范围包括以下步骤：
19、以探针的几何中心的初始坐标为圆心，以预设距离为半径，作识别圆，所述识别圆为探针的几何中心的移动范围。
20、优选的，所述计算获得待测试产品的几何中心包括以下步骤：
21、扫描获取待测试产品内侧边缘的第一边缘曲线，扫描获取待测试产品外侧边缘的第二边缘曲线；
22、在同一个坐标系中生成第一边缘曲线和第二边缘曲线；
23、沿第一边缘曲线均匀取至少一个第一拟合点，根据第一拟合点的坐标，得出第一拟合点的第一逼近函数；
24、沿第二边缘曲线均匀取至少一个第二拟合点，根据第二拟合点的坐标，得出第二拟合点的第二逼近函数；
25、使用几何中心公式计算得出待测试产品的几何中心的坐标；
26、几何中心公式如下：
27、；
28、其中，积分区域为第一逼近函数和第一逼近函数围成的区域，w为积分区域面积，z为待测试产品的几何中心的横坐标，r为待测试产品的几何中心的纵坐标，（x，y）为积分区域内点的坐标。
29、优选的，所述计算获得待测试产品的至少一个支撑点包括以下步骤：
30、获取待测试产品的边际曲线，沿边际曲线均匀选择至少一个边际点，过边际点作切线；
31、过边际点作与对应切线垂直的法线，法线长度为d，考察法线位于边际曲线内的端点所连成的区域是否能被支撑点识别区包含，若是，则将至少一个所述端点作为至少一个支撑点，若否，则以r为幅度增加法线长度。
32、优选的，所述生成初级校准区域包括以下步骤：
33、任意划定校准圆，所述校准圆包含在探针的几何中心的移动范围内，将所述校准圆作为初级校准区域。
34、优选的，所述生成支撑点识别区包括以下步骤：
35、扫描测试平台边缘，将测试平台边缘围成的区域作为支撑点识别区。
36、优选的，所述探针在测试机上移动至探针的几何中心与待测试产品的几何中心重合的位置包括以下步骤：
37、获取探针的几何中心的坐标，获取待测试产品的几何中心的坐标；
38、根据二者的坐标，计算得出探针的几何中心的移动向量；
39、分别根据移动向量在横向或纵向的分量的指向，横向移动探针的几何中心的坐标e个单位，纵向移动移动探针的几何中心的坐标f个单位。
40、优选的，所述确定最佳测试距离包括以下步骤：
41、测试平台从最低点缓慢上升，测试机器上设置感应器，感应器测量待测试产品中的感应电流产生的感应电场，感应电流与待测试产品的测试电流正相关；
42、当感应电流出现高点并开始下降，则将感应电流高点处对应的测试平台高度作为最佳测试距离；
43、确定最佳测试角度包括以下步骤：
44、测试平台缓慢，测试机器上设置感应器，感应器测量待测试产品中的感应电流产生的感应电场，感应电流与待测试产品的测试电流正相关；
45、当感应电流出现高点并开始下降，则将感应电流高点处对应的测试平台的旋转角度作为最佳测试角度。
46、一种飞针测试机测试系统，用于实现上述的一种飞针测试机测试方法，包括：
47、中心计算模块，所述中心计算模块用于计算获得探针的几何中心，计算获得待测试产品的几何中心；
48、扫描模块，所述扫描模块用于扫描待测试产品；
49、范围估计模块，所述范围估计模块用于获取探针的几何中心的移动范围；
50、初级校准模块，所述初级校准模块用于引导待测试产品放置在测试机的测试平台上，待测试产品的位置满足于至少一个支撑点均在支撑点识别区内，且待测试产品的几何中心在初级校准区域内；
51、次级校准模块，所述次级校准模块用于控制探针在测试机移动至探针的几何中心与待测试产品的几何中心重合的位置，控制测试平台升降至预设高度，控制测试平台水平旋转最佳测试角度；
52、识别区域模块，所述识别区域模块用于生成初级校准区域，生成支撑点识别区；
53、语音导引模块，所述用于发出语音引导。
54、上述的一种飞针测试机测试系统的工作过程如下：
55、步骤一：中心计算模块计算获得探针的几何中心，得到探针的几何中心的初始坐标，范围估计模块获取探针的几何中心的移动范围；
56、步骤二：扫描模块扫描待测试产品，中心计算模块计算获得待测试产品的几何中心，扫描模块扫描待测试产品，中心计算模块计算获得待测试产品的至少一个支撑点；
57、步骤三：识别区域模块生成初级校准区域，识别区域模块生成支撑点识别区；
58、步骤四：语音导引模块发出语音引导，辅助初级校准模块引导待测试产品放置在测试机的测试平台上，待测试产品的位置满足于至少一个支撑点均在支撑点识别区内，且待测试产品的几何中心在初级校准区域内；
59、步骤五：次级校准模块控制探针移动至探针的几何中心与待测试产品的几何中心重合的位置，次级校准模块根据探针和待测试产品，确定最佳测试距离，确定最佳测试角度，控制测试平台升降至预设高度，控制测试平台水平旋转最佳测试角度，所述预设高度满足于探针和待测试产品之间距离等于最佳测试距离。
60、与现有技术相比，本发明的有益效果在于：
61、通过设置初级校准模块、次级校准模块和中心计算模块，将测试的校准分为两部分，使用语音引导人为操作放置待测试产品至测试机器上，调整操控迅捷，且待测试产品在探针的调整范围内，使用次级校准模块精细调整探针的位置，使得探针与待测试产品之间产生的感应电流最大，从而待测试产品能获得最大的测试电流，因此能使得测试效率最大化。
1.一种飞针测试机测试方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的一种飞针测试机测试方法，其特征在于，所述计算获得探针的几何中心包括以下步骤：
3.根据权利要求2所述的一种飞针测试机测试方法，其特征在于，所述获取探针的几何中心的移动范围包括以下步骤：
4.根据权利要求3所述的一种飞针测试机测试方法，其特征在于，所述计算获得待测试产品的几何中心包括以下步骤：
5.根据权利要求4所述的一种飞针测试机测试方法，其特征在于，所述计算获得待测试产品的至少一个支撑点包括以下步骤：
6.根据权利要求5所述的一种飞针测试机测试方法，其特征在于，所述生成初级校准区域包括以下步骤：
7.根据权利要求6所述的一种飞针测试机测试方法，其特征在于，所述生成支撑点识别区包括以下步骤：
8.根据权利要求7所述的一种飞针测试机测试方法，其特征在于，所述探针在测试机上移动至探针的几何中心与待测试产品的几何中心重合的位置包括以下步骤：
9.根据权利要求8所述的一种飞针测试机测试方法，其特征在于，所述确定最佳测试距离包括以下步骤：
10.一种飞针测试机测试系统，用于实现如权利要求1-9任一项所述的一种飞针测试机测试方法，其特征在于，包括：
