本发明涉及称重领域，特别涉及一种用于称重仪表的数据安全保护机构及其检测方法。
背景技术：
1、在称重领域中，称重仪表产品可应用于车辆衡、平台秤，台秤等应用场景中。称重仪表作为一种计量器具，整机通常采用机械结构配合光电开关使用，对仪表整机或者称重模块进行多级数据安全保护。无论是在开机状态下，还是关机状态下，这种方式可以检测用户非法开盖，以及非法破坏铅封，从而防止更改或者添加组件改变仪表性能，保证计量结果的准确性和可靠性，以及数据的安全性。通过和仪表系统的结合，特别是审计追溯功能结合，能够很好地保护帮助客户做到数据的可追溯性，如满足gmp的一些要求。
2、图1为现有技术中称重仪表中数据安全保护机构的结构示意图。
3、如图1所示，数据安全保护机构由电源10、mcu微处理器11、红外发射器12、红外接收器13、保护螺钉14和数据安全保护罩15等组成。其中，数据安全保护罩15通常采用塑料结构件，将红外发射器12、红外接收器13等部件罩住，并通过保护螺钉14固定在仪表外壳上。
4、仪表mcu微处理器11控制红外发射器12发射红外光信号，在仪表或者称重模块正常工作时，红外信号由于受到保护螺钉的遮挡，导致红外接收器13不能收到红外信号，mcu微处理器11从而判断数据安全机构未受到破坏。
5、当作弊者需要对仪表更改或者添加组件时，必须拆除保护螺钉14，从而导致红外发射器12发射的信号不再受到遮挡，红外接收器13受到红外信号，mcu微处理器11根据收到的红外信号判断仪表数据安全机构受到破坏，mcu存储数据安全机构受到破坏的记录，并采取进一步的保护措施。
6、这种现有的结构通常存在如下问题：
7、一方面，对于采用上述机械结构配合光电开关的数据安全保护方式，在仪表断电的情况下，数据保护机构电气部分(mcu微处理器和红外发射器、红外接收器)由于缺少必要的工作电源将无法工作。若作弊者在这种情况下破坏数据安全机构对仪表进行更改，并且更改后重新恢复机械结构，则仪表无法检测出这个作弊过程，从而导致数据安全机构失效，称重仪表无法保证数据安全。
8、另一方面，对于采用机械结构配合光电开关的铅封方式的仪表，对于设备正常的开盖维护以及合法的铅封更换无法做到记录和追溯，影响仪表生命周期内的管理。
9、有鉴于此，本技术发明人设计了一种用于称重仪表的数据安全保护机构及其检测方法，以期克服上述技术问题。
技术实现思路
1、本发明要解决的技术问题是为了克服现有技术中称重仪表的数据安全保护机构采用的机械配合光电开关方式容易导致数据安全机构失效，且正常开盖维护和铅封更换时无法记录和追溯等缺陷，提供一种用于称重仪表的数据安全保护机构及其检测方法。
2、本发明是通过下述技术方案来解决上述技术问题的：
3、一种用于称重仪表的数据安全保护机构，其特点在于，所述数据安全保护机构包括：
4、第一检测开关，所述第一检测开关与称重仪表的整机外壳相连，用于检测整机开盖；
5、第二检测开关和数据安全保护罩，所述第二检测开关与所述数据安全保护罩相连，用于检测铅封模块开盖；
6、检测电路，所述检测电路与所述第一检测开关、所述第二检测开关连接，用于监测所述第一检测开关和所述第二检测开关的动作状态，并自动记录动作时间；
7、mcu微处理器，所述mcu微处理器与所述检测电路连接，用于在仪表整机上电开机后读取所述检测电路中记录的动作时间数据，并进行数据处理；
8、第一电源，所述第一电源与所述检测电路连接，用于给所述检测电路供电；
9、第二电源，所述第二电源与所述mcu微处理器连接，为所述mcu微处理器供电。
10、根据本发明的一个实施例，所述检测电路包括控制单元、时钟电路、比较电路和存储器，所述比较电路和所述时钟电路分别与所述控制单元连接，所述控制单元与所述存储器连接，所述存储器和所述mcu微处理器连接。
11、根据本发明的一个实施例，所述第二检测开关的一端接地，另一端与所述比较电路的输入端连接。
12、根据本发明的一个实施例，所述检测电路中还包括第一电阻，所述第一电阻的一端接电源vcc，另一端与所述比较电路的输入端连接。
13、根据本发明的一个实施例，所述第一检测开关的一端接地，另一端与所述比较电路的输入端相连。
14、根据本发明的一个实施例，所述第一检测开关的另一端通过第二电阻与所述比较电路的输入端相连。
15、根据本发明的一个实施例，所述第一电阻和所述第二电阻的电阻值相同。
16、根据本发明的一个实施例，当所述第一检测开关和所述第二检测开关均未闭合动作时，所述比较电路检测到的电压值为所述电源vcc的电压值。
17、根据本发明的一个实施例，当所述第一检测开关闭合动作时，所述比较电路检测到的电压值为1/2的所述电源vcc的电压值，所述比较电路触发所述控制单元工作，记录所述时钟电路的时间至所述存储器。
18、根据本发明的一个实施例，当所述第二检测开关闭合动作时，所述比较电路检测到的电压值为0v，所述比较电路触发所述控制单元工作，记录所述时钟电路的时间至所述存储器。
19、本发明还提供了一种数据安全保护机构的检测方法，其特点在于，所述检测方法采用如上所述的数据安全保护机构，所述检测方法包括：
20、s1、当称重仪表整机开盖时，所述第一检测开关状态改变，触发所述检测电路中断信号，所述检测电路设置整机开盖标志位，并记录整机开盖的时间t1至所述检测电路的存储单元；
21、s2、当所述称重仪表的称重模块开盖时，所述第二检测开关变为导通状态，触发所述检测电路中断信号，所述检测电路设置称重模块开盖标志位，并记录称重模块的开盖时间t2至所述检测电路的存储单元；
22、s3、所述称重仪表上电开机工作后，所述称重仪表的mcu微处理器首先读取所述检测电路的存储单元的数据，并对数据进行处理；
23、s4、处理流程结束后，所述称重仪表整机进入正常工作状态。
24、根据本发明的一个实施例，所述步骤s1之前还包括：所述第一检测开关在所述称重仪表整机未开盖时处于断开状态。
25、根据本发明的一个实施例，所述步骤s2之前还包括：所述第二检测开关在所述称重仪表整机的称重模块未开盖时处于断开状态。
26、根据本发明的一个实施例，所述步骤s3中还包括：若读到时间t1，则所述mcu微处理器记录整机的开盖日志，并启动整机开盖处理软件流程，待操作者对流程确认后清除所述检测电路的整机开盖标志位及所述存储单元内的时间t1。
27、根据本发明的一个实施例，所述步骤s3中还包括：若读到时间t2，则所述mcu微处理器记录模块开盖日志，并启动模块开盖处理软件流程，待操作者对流程确认后，清除所述检测电路模块开盖标志位及所述存储单元内的时间t2。
28、本发明的积极进步效果在于：
29、本发明用于称重仪表的数据安全保护机构及其检测方法，可以实现如下诸多优势：
30、一、可以实现仪表整机及铅封模块开盖状态的自动不间断检测；
31、二、可以自动记录仪表开盖或者铅封模块打开的具体时间(精确到秒级)；
32、三、实现低功耗监测。
1.一种用于称重仪表的数据安全保护机构，其特征在于，所述数据安全保护机构包括：
2.如权利要求1所述的用于称重仪表的数据安全保护机构，其特征在于，所述检测电路包括控制单元、时钟电路、比较电路和存储器，所述比较电路和所述时钟电路分别与所述控制单元连接，所述控制单元与所述存储器连接，所述存储器和所述mcu微处理器连接。
3.如权利要求2所述的用于称重仪表的数据安全保护机构，其特征在于，所述第二检测开关的一端接地，另一端与所述比较电路的输入端连接。
4.如权利要求3所述的用于称重仪表的数据安全保护机构，其特征在于，所述检测电路中还包括第一电阻，所述第一电阻的一端接电源vcc，另一端与所述比较电路的输入端连接。
5.如权利要求4所述的用于称重仪表的数据安全保护机构，其特征在于，所述第一检测开关的一端接地，另一端与所述比较电路的输入端相连。
6.如权利要求5所述的用于称重仪表的数据安全保护机构，其特征在于，所述第一检测开关的另一端通过第二电阻与所述比较电路的输入端相连。
7.如权利要求6所述的用于称重仪表的数据安全保护机构，其特征在于，所述第一电阻和所述第二电阻的电阻值相同。
8.如权利要求7所述的用于称重仪表的数据安全保护机构，其特征在于，当所述第一检测开关和所述第二检测开关均未闭合动作时，所述比较电路检测到的电压值为所述电源vcc的电压值。
9.如权利要求7所述的用于称重仪表的数据安全保护机构，其特征在于，当所述第一检测开关闭合动作时，所述比较电路检测到的电压值为1/2的所述电源vcc的电压值，所述比较电路触发所述控制单元工作，记录所述时钟电路的时间至所述存储器。
10.如权利要求7所述的用于称重仪表的数据安全保护机构，其特征在于，当所述第二检测开关闭合动作时，所述比较电路检测到的电压值为0v，所述比较电路触发所述控制单元工作，记录所述时钟电路的时间至所述存储器。
11.一种数据安全保护机构的检测方法，其特征在于，所述检测方法采用如权利要求1-10任意一项所述的数据安全保护机构，所述检测方法包括：
12.如权利要求11所述的数据安全保护机构的检测方法，其特征在于，所述步骤s1之前还包括：所述第一检测开关在所述称重仪表整机未开盖时处于断开状态。
13.如权利要求11所述的数据安全保护机构的检测方法，其特征在于，所述步骤s2之前还包括：所述第二检测开关在所述称重仪表整机的称重模块未开盖时处于断开状态。
14.如权利要求11所述的数据安全保护机构的检测方法，其特征在于，所述步骤s3中还包括：若读到时间t1，则所述mcu微处理器记录整机的开盖日志，并启动整机开盖处理软件流程，待操作者对流程确认后清除所述检测电路的整机开盖标志位及所述存储单元内的时间t1。
15.如权利要求11所述的数据安全保护机构的检测方法，其特征在于，所述步骤s3中还包括：若读到时间t2，则所述mcu微处理器记录模块开盖日志，并启动模块开盖处理软件流程，待操作者对流程确认后，清除所述检测电路模块开盖标志位及所述存储单元内的时间t2。
