一种膜盒类仪表测试系统

专利2025-06-30  24


本发明属于设备检测,具体涉及一种膜盒类仪表测试系统。


背景技术:

1、膜盒又习惯的被人们叫为电容传感器。用电测法测量非电学量时,首先必须将被测的非电学量转换为电学量而后输入之。通常把非电学量变换成电学量的元件称为变换器;根据不同非电学量的特点设计成的有关转换装置称为传感器,而被测的力学量(如位移、力、速度等)转换成电容变化的传感器称为电容传感器。电容传感器,在流量、压力、液位的测量方面依其良好的性能得到了广泛的应用。为了提高测量的准确性,需要对膜盒仪表进行测试,以保证膜盒仪表能够进行准确测量。

2、而传统的膜盒仪表,在航空维修测试过程中,仍存在手工作业且单个串行方式的情况,而这种检测方式,操作复杂、重复性工作量大且维修效率低,例如在进行某型高度表校验时,需根据测试流程多次设置大气数据测控仪参数,而各项参数的设置较为繁琐,新员上手较慢;每次只能对单个膜盒仪表进行校验,大气数据测控仪即被占用,无法从事其他校验工作,设备利用率低下,此为现有技术的不足之处。


技术实现思路

1、针对现有技术的上述不足,本发明提供一种膜盒类仪表测试系统,以解决上述技术问题。

2、第一方面,本发明提供一种膜盒类仪表测试系统,包括工控机、大气数据测控仪、测试组件和用于为整个系统供电的电源模块,大气数据测控仪通过程控总线连接到工控机;

3、测试组件安装在工控机的后方,并与工控机滑动连接,测试组件包括安装支架、测试支架、减震弹簧和振动马达,安装支架通过滑轨与工控机进行滑动连接,测试支架通过减震弹簧安装到安装支架上,测试支架上设置有若干测试孔,待测试膜盒仪表安装到测试孔内,并通过设置在测试孔侧壁上的螺栓进行紧固,待测试膜盒仪表通过输气软管连接到大气数据测控仪,形成测试通道,输气软管上设置有气路分配器,气路分配器的输入端连接到大气数据测控仪,气路分配器的输出端连接至少一个待测试膜盒仪表;振动马达和工控机通讯连接。

4、本技术方案的进一步改进还有,大气数据测控仪采用型号为adts203b-1的大气数据测控仪。

5、本技术方案的进一步改进还有,输气软管的一端连接到待测试膜盒仪表,输气软管的另一端通过静压夹具/适配器连接到大气数据测控仪。

6、本技术方案的进一步改进还有,测试支架上设置有4个测试孔。

7、本技术方案的进一步改进还有,还包括外壳,外壳包括上、中、下三个安装框,工控机和测试组件安装在上安装框内,大气数据测控仪安装在中安装框内,振动马达和电源模块安装在下安装框内,下安装框上设置有防护门。

8、本技术方案的进一步改进还有,大气数据测控仪下方的中安装框上从左至右依次设置有电源启停按钮、工控机启停按钮和振动马达启停按钮。

9、本技术方案的进一步改进还有,还包括打印机,打印机与工控机通讯连接。

10、本发明的有益效果在于,本发明能够通过气路分配器和设置有若干个测试孔的测试支架对多个待测试膜盒仪表进行测试,提高测试效率;且工作人员只需要在工控机上进行测试项目的选择,无需每次都需要人工输入各种测试参数,提高测试效率。

11、此外,本发明设计原理可靠,结构简单,具有非常广泛的应用前景。



技术特征:

1.一种膜盒类仪表测试系统,其特征在于,包括工控机、大气数据测控仪、测试组件和用于为整个系统供电的电源模块,大气数据测控仪通过程控总线连接到工控机;

2.根据权利要求1所述的膜盒类仪表测试系统,其特征在于,大气数据测控仪采用型号为adts203b-1的大气数据测控仪。

3.根据权利要求1所述的膜盒类仪表测试系统,其特征在于,输气软管的一端连接到待测试膜盒仪表,输气软管的另一端通过静压夹具/适配器连接到大气数据测控仪。

4.根据权利要求1所述的膜盒类仪表测试系统,其特征在于,测试支架上设置有4个测试孔。

5.根据权利要求1所述的膜盒类仪表测试系统,其特征在于,还包括外壳,外壳包括上、中、下三个安装框,工控机和测试组件安装在上安装框内,大气数据测控仪安装在中安装框内,振动马达和电源模块安装在下安装框内,下安装框上设置有防护门。

6.根据权利要求5所述的膜盒类仪表测试系统,其特征在于,大气数据测控仪下方的中安装框上从左至右依次设置有电源启停按钮、工控机启停按钮和振动马达启停按钮。

7.根据权利要求1所述的膜盒类仪表测试系统,其特征在于,还包括打印机,打印机与工控机通讯连接。


技术总结
本发明属于设备检测技术领域,具体提供一种膜盒类仪表测试系统,包括工控机、大气数据测控仪、测试组件和用于为整个系统供电的电源模块,大气数据测控仪通过程控总线连接到工控机;本发明能够通过气路分配器和设置有若干个测试孔的测试支架对多个待测试膜盒仪表进行测试,提高测试效率;且工作人员只需要在工控机上进行测试项目的选择,无需每次都需要人工输入各种测试参数,提高测试效率,且能够自动生成测试报告和误差曲线,便于工作人员的分析。

技术研发人员:杨卫,任满红,王健,王蛟,李琦,孙振擎,李勃
受保护的技术使用者:中国人民解放军海军航空大学
技术研发日:
技术公布日:2024/11/11
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