本申请涉及智能管理领域，且更为具体地，涉及一种基于al的集成电路测试管理系统。
背景技术：
1、集成电路测试管理是确保集成电路(ic)在设计和生产过程中符合预定标准的一系列过程，这涉及到多个测试阶段，包括设计验证、晶圆测试、封装后测试等。这些测试不仅涉及电气性能，还包括对芯片的物理和化学属性的评估，有效的测试管理可以提高生产效率，降低成本，并确保产品质量。
2、在集成电路中，潜在的故障或不良可能导致设备无法正常工作或输出错误，影响电子设备的性能和可靠性。例如，电源问题可能阻止集成电路启动或运行；过热可能损坏内部元件；而连接问题可能导致信号传输中断。因此，对集成电路进行彻底的测试至关重要，以确保质量和可靠性。
3、但由于传统的人工检测过程耗时且效率低，不适合大规模生产和快速检测的需求，导致效率较低。其次，随着集成电路设计的复杂性增加，传统的故障判断方法难以适应新的测试需求，影响结果的准确性。
4、因此，期待一种基于al的集成电路测试管理系统。
技术实现思路
1、为了解决上述技术问题，提出了本申请。本申请的实施例提供了一种基于al的集成电路测试管理系统，其通过采集集成电路的测试数据的时间序列，其中，所述测试数据包括电压、电流和频率，并采用基于al和深度学习技术对所述测试数据进行时序特征分析和相互关联交互，从而来智能地得到当前的测试点是否潜在故障和不良的判断结果。通过这样的方式，减少了对人工分析的依赖，同时加快了响应速度，并能够更准确地识别测试数据中的异常模式，以便及时发现潜在的故障和不良，提高故障检测的准确性和及时性。
2、根据本申请的一个方面，提供了一种基于al的集成电路测试管理系统，其包括：
3、测试数据获取模块，用于采集集成电路的测试数据的时间序列，所述测试数据包括电压、电流和频率；
4、测试数据数据规整模块，用于将所述测试数据的时间序列按照时间维度和样本维度进行数据规整以得到测试数据时序输入向量的序列；
5、测试数据局部短期时序编码模块，用于将所述测试数据时序输入向量的序列进行测试数据局部短期时序编码以得到测试数据短期时序模式特征向量的序列；
6、测试数据长期时序编码模块，用于将所述测试数据时序输入向量的序列进行测试数据长期时序编码以得到测试数据长期时序模式特征向量的序列；
7、特征融合模块，用于将所述测试数据短期时序模式特征向量的序列和所述测试数据长期时序模式特征向量的序列进行融合以得到测试数据多尺度时序模式特征向量的序列；
8、测试数据特征关联交互模块，用于将所述测试数据多尺度时序模式特征向量的序列进行测试数据特征关联交互以得到测试数据特征关联交互特征矩阵；
9、判断结果生成模块，用于基于所述测试数据特征关联交互特征矩阵，得到判断结果。
10、与现有技术相比，本申请提供的一种基于al的集成电路测试管理系统，其通过采集集成电路的测试数据的时间序列，其中，所述测试数据包括电压、电流和频率，并采用基于al和深度学习技术对所述测试数据进行时序特征分析和相互关联交互，从而来智能地得到当前的测试点是否潜在故障和不良的判断结果。通过这样的方式，减少了对人工分析的依赖，同时加快了响应速度，并能够更准确地识别测试数据中的异常模式，以便及时发现潜在的故障和不良，提高故障检测的准确性和及时性。
1.一种基于al的集成电路测试管理系统，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的基于al的集成电路测试管理系统，其特征在于，所述测试数据局部短期时序编码模块，用于：
3.根据权利要求2所述的基于al的集成电路测试管理系统，其特征在于，所述测试数据长期时序编码模块，用于：
4.根据权利要求3所述的基于al的集成电路测试管理系统，其特征在于，所述特征融合模块，用于：
5.根据权利要求4所述的基于al的集成电路测试管理系统，其特征在于，所述测试数据特征关联交互模块，用于：
6.根据权利要求5所述的基于al的集成电路测试管理系统，其特征在于，所述判断结果生成模块，包括：
7.根据权利要求6所述的基于al的集成电路测试管理系统，其特征在于，所述特征优化单元，用于：
8.根据权利要求7所述的基于al的集成电路测试管理系统，其特征在于，所述特征优化单元，包括：
9.根据权利要求8所述的基于al的集成电路测试管理系统，其特征在于，所述相关性校正子单元，用于：
