本申请涉及热失控测试，具体涉及一种电芯恒温升热失控测试系统、方法、存储介质及智能设备。
背景技术：
1、目前电芯热失控测试主要依靠人工监测温升速率，输出对应的功率对电芯进行加热，模拟电芯在高温环境下的异常情况。由于测试需要人为调整，存在数据偏差、调整时间较长、温升数据波动较大的问题，会影响热失控测试的准确性和可靠性。
2、相应地，本领域需要一种新的电芯恒温升热失控测试方案来解决上述问题。
技术实现思路
1、为了克服上述缺陷，提出了本申请，以解决或至少部分地解决依靠人工调整影响热失控测试的准确性和可靠性的问题。
2、在第一方面，提供一种电芯恒温升热失控测试系统，应用于电芯，所述系统包括：温度控制装置、温度采集装置以及加热装置，所述温度采集装置与电芯连接，用于采集所述电芯的温度，所述加热装置与所述电芯连接，用于对所述电芯进行加热，所述温度控制装置与所述温度采集装置以及所述加热装置分别连接，用于根据所述电芯的温度利用闭环控制方法控制所述加热装置以预设温升速率对所述电芯进行加热。
3、在上述电芯恒温升热失控测试系统的一个技术方案中，温度控制装置包括温控器及可控硅，或者可编程逻辑控制器及固态继电器，所述温控器根据电芯的温度利用闭环控制方法通过所述可控硅控制加热装置以预设温升速率对电芯进行加热，或者所述可编程逻辑控制器根据电芯的温度利用闭环控制方法通过所述固态继电器控制加热装置以预设温升速率对电芯进行加热。
4、在上述电芯恒温升热失控测试系统的一个技术方案中，温度控制装置还用于获取多个环境温度下电芯恒温升热失控测试对应的温升速率以及控制参数；基于多个环境温度下的温升速率以及控制参数确定控制参数与环境温度之间的对应关系；基于所述对应关系，根据当前环境温度确定对应的控制参数，利用所述控制参数控制加热装置以预设温升速率对电芯进行加热。
5、在上述电芯恒温升热失控测试系统的一个技术方案中，温度控制装置还用于在控制加热装置以预设温升速率对电芯进行加热前，在预设时长内将电芯温度控制在预设温度。
6、在上述电芯恒温升热失控测试系统的一个技术方案中，所述系统还包括：电源以及多路测温仪，所述电源分别与温度控制装置以及多路测温仪连接，用于为温度控制装置以及多路测温仪供电，所述多路测温仪用于采集并显示电芯恒温升热失控测试信息。
7、在第二方面，提供一种采用上述第一方面任一技术方案中的电芯恒温升热失控测试系统的电芯恒温升热失控测试方法，包括：获取采集的电芯的温度；根据所述电芯的温度利用闭环控制方法控制加热装置以预设温升速率对电芯进行加热。
8、在上述电芯恒温升热失控测试方法的一个技术方案中，温度控制装置通过自整定方法确定闭环控制的控制参数，所述方法还包括：获取多个环境温度下电芯恒温升热失控测试对应的温升速率以及控制参数；基于多个环境温度下的温升速率以及控制参数确定控制参数与环境温度之间的对应关系；基于所述对应关系，根据当前环境温度确定对应的控制参数，利用所述控制参数控制加热装置以预设温升速率对电芯进行加热。
9、在上述电芯恒温升热失控测试方法的一个技术方案中，获取多个环境温度下电芯恒温升热失控测试对应的温升速率以及控制参数，包括：基于预设温度变化量控制环境温度改变；获取环境温度改变后电芯恒温升热失控测试对应的温升速率；利用自整定方法基于所述温升速率以及预设速率要求确定控制参数；重复控制环境温度改变，获取对应的温升速率以及确定控制参数的步骤，得到多个环境温度下电芯恒温升热失控测试对应的温升速率以及控制参数。
10、在第三方面，提供一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质其中存储有多条程序代码，所述程序代码适于由处理器加载并运行以执行上述第二方面任一技术方案中的电芯恒温升热失控测试方法。
11、在第四方面，提供一种智能设备，该智能设备包括至少一个处理器；以及，与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，所述存储器中存储有计算机程序，所述计算机程序被所述至少一个处理器执行时实现上述第二方面任一技术方案中的电芯恒温升热失控测试方法。
12、本申请上述一个或多个技术方案，至少具有如下一种或多种有益效果：
13、在本申请实施例中，温度采集装置采集电芯的温度，温度控制装置根据该温度利用闭环控制方法控制加热装置以预设温升速率对电芯进行加热。由于该系统无需人工干预，能够自动地以一个较为稳定的温升速率即预设温升速率对电芯进行加热，避免了人为调整存在数据偏差、调整时间长、温升速率波动大的问题，达到了提高热失控测试准确性和可靠性的效果。
14、在本申请实施例中，使用温控器及可控硅或者可编程逻辑控制器及固态继电器两套不同的温度控制装置控制加热装置，达到了提高测试灵活性的效果。
15、在本申请实施例中，使用环境温度控制器将环境温度控制在预设温度范围内，实现了保证测试环境稳定性的目的。
16、在本申请实施例中，在对电芯加热前通过温度控制装置在预设时长内将电芯温度控制在预设温度，实现了保证电芯进行测试时的初始温度相同的目的，有利于提高热失控测试的准确性和可靠性。
17、在本申请实施例中，根据多个环境温度下的温升速率以及控制参数确定控制参数与环境温度之间的关系，总结温度控制装置自整定的控制参数与环境温度间的关系，实现了降低操作难度以及提高测试效率的目的。
1.一种电芯恒温升热失控测试系统，其特征在于，应用于电芯，所述系统包括：
2.根据权利要求1所述的电芯恒温升热失控测试系统，其特征在于，温度控制装置包括温控器及可控硅，或者可编程逻辑控制器及固态继电器，所述温控器根据电芯的温度利用闭环控制方法通过所述可控硅控制加热装置以预设温升速率对电芯进行加热，或者所述可编程逻辑控制器根据电芯的温度利用闭环控制方法通过所述固态继电器控制加热装置以预设温升速率对电芯进行加热。
3.根据权利要求1所述的电芯恒温升热失控测试系统，其特征在于，温度控制装置还用于获取多个环境温度下电芯恒温升热失控测试对应的温升速率以及控制参数；基于多个环境温度下的温升速率以及控制参数确定控制参数与环境温度之间的对应关系；基于所述对应关系，根据当前环境温度确定对应的控制参数，利用所述控制参数控制加热装置以预设温升速率对电芯进行加热。
4.根据权利要求1所述的电芯恒温升热失控测试系统，其特征在于，温度控制装置还用于在控制加热装置以预设温升速率对电芯进行加热前，在预设时长内将电芯温度控制在预设温度。
5.根据权利要求1所述的电芯恒温升热失控测试系统，其特征在于，所述系统还包括：电源以及多路测温仪，所述电源分别与温度控制装置以及多路测温仪连接，用于为温度控制装置以及多路测温仪供电，所述多路测温仪用于采集并显示电芯恒温升热失控测试信息。
6.一种采用权利要求1至5中任一项所述的电芯恒温升热失控测试系统的电芯恒温升热失控测试方法，其特征在于，包括：
7.根据权利要求6所述的电芯恒温升热失控测试方法，其特征在于，确定闭环控制的控制参数，包括：
8.根据权利要求7所述的电芯恒温升热失控测试方法，其特征在于，获取多个环境温度下电芯恒温升热失控测试对应的温升速率以及控制参数，包括：
9.一种计算机可读存储介质，其中存储有多条程序代码，其特征在于，所述程序代码适于由处理器加载并运行以执行权利要求6至8中任一项所述的电芯恒温升热失控测试方法。
10.一种智能设备，其特征在于，包括：
