配向膜的状态评估方法、装置、电子设备及存储介质与流程

专利2025-06-24  24


本公开涉及液晶显示,尤其涉及一种配向膜的状态评估方法、装置、电子设备及存储介质。


背景技术:

1、液晶显示面板(liquid crystal display,lcd)是一种广泛应用的平板显示技术,其核心在于利用液晶材料的光学性质变化来实现图像显示。液晶显示面板技术以其低功耗、轻薄便携、无辐射等优势,在电视、电脑显示器、手机、平板电脑以及各类仪表显示器中占据重要地位。液晶显示面板中液晶材料与配向膜(pi)之间直接接触,如果配向膜吸附较多杂散离子,会影响液晶面板的显示,造成闪烁、残像等问题。相关技术通过给液晶测试盒加直流电压测量电压累积的电荷在释放后的残余电压来评价杂散离子吸附情况,但是此方法评判配向膜对离子的吸附差异存在较大盲区,无法评价液晶与配向膜之间离子动态交互作用状况,而且加直流电压过长,容易造成液晶极化,另外测量时间也较长。


技术实现思路

1、为了解决上述技术问题,本公开提供了一种配向膜的状态评估方法、装置、电子设备及存储介质。

2、本公开提供了一种配向膜的状态评估方法,所述配向膜位于液晶显示面板中,所述液晶显示面板还包括公共电极、像素电极以及液晶材料;所述方法包括:向所述公共电极与所述像素电极中的一个提供测试输入信号,并从所述公共电极与所述像素电极中的另一个获取测试输出信号,所述测试输出信号为时域信号;根据所述测试输出信号中第一时刻的峰值数据得到第一离子量,并根据所述测试输出信号中第二时刻的峰值数据得到第二离子量,所述第二时刻晚于所述第一时刻;根据所述第一离子量与所述第二离子量评估所述配向膜的离子吸附状态。

3、基于同一发明构思,本公开还提供了一种配向膜的状态评估装置,所述配向膜位于液晶显示面板中,所述液晶显示面板还包括公共电极、像素电极以及液晶材料;所述装置包括:测试模块,用于向所述公共电极与所述像素电极中的一个提供测试输入信号,并从所述公共电极与所述像素电极中的另一个获取测试输出信号,所述测试输出信号为时域信号;计算模块,用于根据所述测试输出信号中第一时刻的幅值数据得到第一离子量,并根据所述测试输出信号中第二时刻的幅值数据得到第二离子量,所述第二时刻晚于所述第一时刻;评估模块,用于根据所述第一离子量与所述第二离子量评估所述配向膜的离子吸附状态。

4、基于同一发明构思,本公开还提供了一种电子设备,其特征在于,包括:处理器;存储器,用于存储可执行指令;其中,所述处理器用于从所述存储器中读取所述可执行指令,并执行所述可执行指令以实现所述的配向膜的状态评估方法。

5、基于同一发明构思,本公开还提供了一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,所述存储介质存储有计算机程序,当所述计算机程序被处理器执行时,使得处理器实现所述的配向膜的状态评估方法。

6、本公开提供的技术方案与现有技术相比具有如下优点:本公开提供的方法直接、快速而方便地评估液晶材料中离子与配向膜吸附状况,有助于对液晶配方进一步开发,并有助于判断不同液晶材料与不同配向膜之间的匹配性,进而提升最终产品的显示效果。



技术特征:

1.一种配向膜的状态评估方法,其特征在于,所述配向膜位于液晶显示面板中,所述液晶显示面板还包括公共电极、像素电极以及液晶材料;

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述第一时刻与所述第二时刻为所述测试输出信号中相邻的两个离子峰所对应的时刻。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述第一离子量与所述第二离子量评估所述配向膜的离子吸附状态,包括:

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述测试输出信号为电压电流信号;

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述测试输入信号包括三角波信号。

6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述测试输入信号的最大电压值小于所述液晶材料的液晶阈值电压。

7.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述测试输入信号的最小电压值大于所述液晶材料的液晶饱和电压。

8.一种配向膜的状态评估装置,其特征在于,所述配向膜位于液晶显示面板中,所述液晶显示面板还包括公共电极、像素电极以及液晶材料;

9.一种电子设备,其特征在于,包括:

10.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,所述存储介质存储有计算机程序,当所述计算机程序被处理器执行时,使得处理器实现所述权利要求1-7中任一项所述的方法。


技术总结
本公开涉及一种配向膜的状态评估方法、装置、电子设备及存储介质。配向膜位于液晶显示面板中,液晶显示面板还包括公共电极、像素电极以及液晶材料;方法包括:向公共电极与像素电极中的一个提供测试输入信号,并从公共电极与像素电极中的另一个获取测试输出信号;根据测试输出信号中第一时刻的峰值数据得到第一离子量,并根据测试输出信号中第二时刻的峰值数据得到第二离子量;根据第一离子量与第二离子量评估配向膜的离子吸附状态。本公开提供的方法直接、快速而方便地评估液晶材料中离子与配向膜吸附状况,有助于对液晶配方进一步开发,并有助于判断不同液晶材料与不同配向膜之间的匹配性,进而提升最终产品的显示效果。

技术研发人员:杨雪彪,赵玉盼,张生林,陈卯先,丁志艳,郭云鹏,李承贺
受保护的技术使用者:北京八亿时空液晶科技股份有限公司
技术研发日:
技术公布日:2024/11/11
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