本申请涉及电池隔膜基膜的，更具体地说，它涉及一种改善基膜断裂伸长率的调试方法与电池隔膜基膜。
背景技术：
1、锂电池是一种目前比较先进的储能器件，其主要组成为电池正负极、电解液以及隔膜。隔膜在锂电池中起到提供离子运输通道同时防止正负极接触造成短路的作用。因此隔膜在锂电池工作安全方面起到了重大的作用。
2、断裂伸长率通常是通过如下手段进行测试：将制备出的基膜裁出1cm*10cm条状膜，在固定拉力下，膜形变未断裂的最大长度。隔膜的td断裂伸长率通常能达到一个较高的水平，但是隔膜的md断裂伸长率由于膜内部的结晶取向以及结晶度较高而偏低。
3、随着竞争愈发的激烈，当前行业都重点关注产线提速问题，而随着产线提速md方向拉伸速度的提高，md方向晶体取向更加规整，且结晶度更高，断裂伸长率会逐渐偏下限而影响继续提速。遇到这类情况，目前比较常规的手段为降低全线张力，减少冷拉伸。但是由于降低张力后，隔膜表面因较难维持一个稳定紧绷的状态而发生断膜，从而影响产量。而本申请为调整md断裂伸长率提供一种新的手段方式。
技术实现思路
1、为了改善电池隔膜基膜的md断裂伸长率，本申请提供一种改善基膜断裂伸长率的调试方法与电池隔膜基膜。
2、本申请提供的一种改善基膜断裂伸长率的调试方法，采用如下的技术方案：
3、第一方面，本申请提供一种改善基膜断裂伸长率的调试方法，所述二次拉伸由预热区、拉伸区、热缩区与热固区组成；所述调试方法包括以下步骤：s1、幅宽确定：确认收缩幅宽，所述热缩区幅宽为5800mm-7000mm，所述热固区幅宽为5800mm-7000mm；s2、热缩区与热固区调整：调节热缩区与热固区的比例，所述热缩区：热固区的数量比例为1-2:1-5。
4、通过采用上述技术方案，通过对热缩区与热固区的比例的调整，提高热缩区的比例，即延长了对基膜的热缩时间，延长了去除基膜应力的时间，进而有效降低基膜表面的应力，使链段结构更加稳定，有效降低后期静置时基膜形变的可能性，有效提高基膜的md断裂伸长率。
5、可选的，所述热固区与所述热缩区的数量比例为5:1。
6、可选的，每个所述热固区的幅宽分别为7000mm，所述热缩区的幅宽为5800mm。
7、可选的，所述热固区与所述热缩区的数量比例为2:1。
8、可选的，每个所述热固区的幅宽分别为7000mm，所述热缩区的幅宽依次为6400mm和5800mm。
9、可选的，所述热固区与所述热缩区的数量比例为1:1。
10、可选的，每个所述热固区的幅宽分别为7000mm，所述热缩区的幅宽依次为6600mm、6200mm和5800mm。
11、可选的，所述热固区与所述热缩区的数量比例为1:2。
12、可选的，每个所述热固区的幅宽分别为7000mm，所述热缩区的幅宽依次为6700mm、6400mm、6100mm和5800mm。
13、第二方面，本申请提供一种电池隔膜基膜，采用如下的技术方案：
14、一种电池隔膜基膜，应用上述所述的一种改善基膜断裂伸长率的调试方法制备得到。
15、综上所述，本申请具有以下有益效果：
16、1、由于本申请中通过对热缩区与热固区的比例的调整，提高热缩区的比例，即延长了对基膜的热缩时间，延长了去除基膜应力的时间，进而有效降低基膜表面的应力，使链段结构更加稳定，有效降低后期静置时基膜形变的可能性，有效提高基膜的md断裂伸长率。
1.一种改善基膜断裂伸长率的调试方法，其特征在于，所述二次拉伸由预热区、拉伸区、热缩区与热固区组成；
2.根据权利要求1所述的一种改善基膜断裂伸长率的调试方法，其特征在于：所述热固区与所述热缩区的数量比例为5:1。
3.根据权利要求2所述的一种改善基膜断裂伸长率的调试方法，其特征在于：每个所述热固区的幅宽分别为7000mm，所述热缩区的幅宽为5800mm。
4.根据权利要求3所述的一种改善基膜断裂伸长率的调试方法，其特征在于：所述热固区与所述热缩区的数量比例为2:1。
5.根据权利要求2所述的一种改善基膜断裂伸长率的调试方法，其特征在于：每个所述热固区的幅宽分别为7000mm，所述热缩区的幅宽依次为6400mm和5800mm。
6.根据权利要求5所述的一种改善基膜断裂伸长率的调试方法，其特征在于：所述热固区与所述热缩区的数量比例为1:1。
7.根据权利要求2所述的一种改善基膜断裂伸长率的调试方法，其特征在于：每个所述热固区的幅宽分别为7000mm，所述热缩区的幅宽依次为6600mm、6200mm和5800mm。
8.根据权利要求7所述的一种改善基膜断裂伸长率的调试方法，其特征在于：所述热固区与所述热缩区的数量比例为1:2。
9.根据权利要求2所述的一种改善基膜断裂伸长率的调试方法，其特征在于：每个所述热固区的幅宽分别为7000mm，所述热缩区的幅宽依次为6700mm、6400mm、6100mm和5800mm。
10.一种电池隔膜基膜，其特征在于：应用权利要求1-9任一项所述的一种改善基膜断裂伸长率的调试方法制备得到。
