一种基于t5385es测试设备的测试接口装置
技术领域
1.本发明涉及存储器测试领域，具体涉及一种基于t5385es测试设备的测试接口装置。
背景技术：2.存储器测试包括3个要素：测试设备、测试接口板、测试程序。为实现整个测试过程，需要在硬件上将自动测试设备(ate)和被测器件(dut)进行高效、可靠的连接。测试接口板的主要作用是将被测器件和自动测试设备之间提供硬件连接，为了节约成本，测试接口板通常采用测试设备接口装置与测试接口子板的设计。
3.现有的常规t5385es测试设备接口装置通过矩形电连接器、印制板电连接器和带屏蔽层的低频线缆、数据线缆等使t5385es设备资源和测试接口子板相连。t5385es设备具有高达300路硬件资源，需要的线缆数量较多，导致低频线缆、数据线缆装配复杂，空间结构浪费，传输速率慢，无法满足高速存储器测试需求。
技术实现要素：4.本发明针对现有技术存在的上述不足，提供了一种基于t5385es测试设备的测试接口装置，其特征在于，其只由一块母板测试板组成，包括测试设备接口、pogo pin接口，所述pogo pin接口与测试设备接口采用pcb走线进行连接，所述测试设备接口采用同轴接口模块与t5385es测试设备硬件资源连接，所述pogo pin接口与测试接口子板连接，为被测器件dut提供电源及输入输出信号。
5.进一步的是，所述pcb走线中，连接电源线与gnd线分别独立采用一层设计。
6.进一步的是，所述测试设备接口mbj1-12共计12个，所述pogo pin接口j1-j6共计6个。
7.进一步的是，所述接口包括48路pps、60路i/o信号、96路dr信号、12路lvdr信号、12路hvdr信号、12路hcdr信号、4路p5vpb信号、24路mcw信号、32路pbrd信号、14路pbtype、2路dcw信号、4路mbbus信号，共320路电源及信号。
8.进一步的是，其采用6个pogo pin模块，每个pogo pin模块具有192个引脚。
9.进一步的是，所述pogo pin接口是可插拔替换的。
10.本发明提供的t5385es测试设备改进型接口母板设计，用pogo pin连接器替代传统的矩形电连接器、印制板电连接器，用印制板走线替代低频线缆、数据线缆，使测试设备接口装置更加小巧、轻薄，更节约空间，简化装配流程，易于维修，而且传输速率更快，更好的发挥t5385es性能，满足高速存储器测试需求。
附图说明
11.图1所示为现有的用于t5385es测试设备接口装置的结构示意图。
12.图2所示为本发明所提供的基于t5385es测试设备的测试接口装置的连接示意图。
13.图3所示为本发明所提供的基于t5385es测试设备的测试接口装置的结构示意图。
具体实施方式
14.本发明提供了一种基于t5385es测试设备的测试接口装置，下面结合附图对本发明的具体实施方式进行进一步的详细描述。
15.图1所示为现有的用于t5385es测试设备接口装置的结构示意图。如图1所示，现有的t5385es测试设备接口装置由第一印制线路板(universal board)、支撑螺栓(spacer-bolt)、第二印制线路板(custom socket board)、线缆(cable)、dut接口、测试设备接口构成。从图1可以看出测试设备接口装置由2块印制线路板组成，2块印制线路板由矩形电连接器、印制板电连接器和带屏蔽层的低频线缆、数据线缆进行连接，数据传输速率低，装配异常复杂，空间结构浪费，线缆数量较多，若线缆长时间使用出现老化损伤现象，后期维修定位难度较大，不易于更换线缆，提升了维修成本。
16.图2所示为本发明所提供的基于t5385es测试设备的测试接口装置的连接示意图。如图2所示，本发明所提供的改进的测试设备接口装置装只由一块母板测试板(mother board)组成，包括测试设备接口、pogo pin接口。
17.本发明将现有的第一印制线路板(universal board)、第二印制线路板(custom socket board)两块印制线路板简化为一块母板测试板(mother board)。并且，使用pcb走线替代现有技术中连接第一印制线路板(universal board)、第二印制线路板(custom socket board)两块印制线路的矩形电连接器、印制板电连接器和带屏蔽层的低频线缆、数据线缆，数据传输速率更高。此外，本发明将dut接口改为高速的pogo pin接口，传输频率高达266mhz，而且可以插拔替换，易于后期维修保养。最后，本发明去掉了支撑螺栓(spacer-bolt)，节约了空间，布局更合理。
18.在一个实施方式当中，本发明的测试设备接口装置的具体布局如图2所示，其中mbj1-12为测试设备接口，共计12个，j1-j6为pogo pin接口，共计6个。
19.为了便于pogo pin接口与测试设备接口布局布线，优选共采用6个pogo pin模块，每个pogo pin模块具有192个引脚，pogo pin接口与测试接口子板连接，为被测器件(dut)提供电源及输入输出信号。pogo pin触点更加精准，传输速率更高，可以提供266mhz频率的传输速度，满足高速存储器如sdram、ddr存储器的测试需求。此外pogo pin若长时间使用，出现老化损伤情况，可以直接插拔替代，增强可维修性，降低维修成本。
20.图3所示为本发明所提供的基于t5385es测试设备的测试接口装置的结构示意图。如图3所示，测试设备接口采用同轴接口模块与t5385es测试设备硬件资源连接，接口包括48路pps、60路i/o信号、96路dr信号、12路lvdr信号、12路hvdr信号、12路hcdr信号、4路p5vpb信号、24路mcw信号、32路pbrd信号、14路pbtype、2路dcw信号、4路mbbus信号，共320路电源及信号。
21.pogo pin接口与测试设备接口采用pcb走线进行连接，优选电源线与gnd线分别独立采用一层设计，减少对信号层的干扰。采用pcb走线，而非线缆的连接，可以减少布线和装配的差错，节省了设备的维修、调试、检测时间。pcb走线可以使布线密度更高、体积小、重量轻，降低采购成本。
22.本发明提供用于测试设备接口装置适用于t5385es测试设备使用，测试设备接口
装置设计更合理，更加小巧、轻薄，更节约空间，简化装配流程，易于维修，节省成本，而且pogo pin传输速率更快，更好的发挥t5385es性能，满足高速存储器测试需求。
23.本发明虽然已以较佳实施例公开如上，但其并不是用来限定本发明，任何本领域技术人员在不脱离本发明的精神和范围内，都可以利用上述揭示的方法和技术内容对本发明技术方案做出可能的变动和修改，因此，凡是未脱离本发明技术方案的内容，依据本发明的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化及修饰，均属于本发明技术方案的保护范围。
24.需要说明的是，上文只是对本发明进行示意性说明和阐述，本领域的技术人员应当明白，对本发明的任意修改和替换都属于本发明的保护范围。
技术特征：1.一种基于t5385es测试设备的测试接口装置，其特征在于，其只由一块母板测试板组成，包括测试设备接口、pogo pin接口，所述pogo pin接口与测试设备接口采用pcb走线进行连接，所述测试设备接口采用同轴接口模块与t5385es测试设备硬件资源连接，所述pogo pin接口与测试接口子板连接，为被测器件dut提供电源及输入输出信号。2.根据权利要求1所述的基于t5385es测试设备的测试接口装置，其特征在于，所述pcb走线中，连接电源线与gnd线分别独立采用一层设计。3.根据权利要求1所述的基于t5385es测试设备的测试接口装置，其特征在于，所述测试设备接口mbj1-12共计12个，所述pogo pin接口j1-j6共计6个。4.根据权利要求1所述的基于t5385es测试设备的测试接口装置，其特征在于，接口包括48路pps、60路i/o信号、96路dr信号、12路lvdr信号、12路hvdr信号、12路hcdr信号、4路p5vpb信号、24路mcw信号、32路pbrd信号、14路pbtype、2路dcw信号、4路mbbus信号，共320路电源及信号。5.根据权利要求1所述的基于t5385es测试设备的测试接口装置，其特征在于，其采用6个pogo pin模块，每个pogo pin模块具有192个引脚。6.根据权利要求1所述的基于t5385es测试设备的测试接口装置，其特征在于，所述pogo pin接口是可插拔替换的。
技术总结本发明提供了一种基于T5385ES测试设备的测试接口装置，其特征在于，其只由一块母板测试板组成，包括测试设备接口、POGO PIN接口，所述POGOPIN接口与测试设备接口采用PCB走线进行连接，所述测试设备接口采用同轴接口模块与T5385ES测试设备硬件资源连接，所述POGO PIN接口与测试接口子板连接，为被测器件DUT提供电源及输入输出信号。本发明提供的T5385ES测试设备改进型接口母板设计，用POGO PIN连接器替代传统的矩形电连接器、印制板电连接器，用印制板走线替代低频线缆、数据线缆，使测试设备接口装置更加小巧、轻薄，更节约空间，简化装配流程，易于维修，而且传输速率更快，更好的发挥T5385ES性能，满足高速存储器测试需求。满足高速存储器测试需求。满足高速存储器测试需求。
技术研发人员：王立恒 王昆黍 楼建设 江芸 游君
受保护的技术使用者：上海精密计量测试研究所
技术研发日：2022.06.08
技术公布日：2022/11/1
