本申请涉及芯片测试，尤指一种测试系统。
背景技术：
1、针对芯片的测试可以辅助工程师发现芯片制造中的缺陷并加以优化，进而使芯片的质量和性能达到预设要求。测试的实体对象包括但不限于芯片的管脚、功能模块、接口和存储器。其中，对于存储器的测试不可或缺，其可以用于验证存储器的读写功能的准确性。
2、现有技术中针对待测芯片的存储器部分的测试存在测试速度较慢或者测试设备成本较高的缺陷，导致对待测芯片进行测试的时间成本或经济成本不可控，使得待测芯片的测试效率低下。因此，如何提高待测芯片的测试效率是一个亟待解决的问题。
技术实现思路
1、有鉴于此，本申请公开一种测试系统，以实现在不增加成本的情况下，快速读写存储器中的数据，提高待测芯片的测试效率。
2、一种测试系统，用于待测芯片，待测芯片包括存储器，测试系统包括测试机和测试模块，测试模块设置于待测芯片上并耦接存储器的访问端口；其中，测试机被配置为发送控制信号，测试模块被配置为接收控制信号，并根据控制信号切换状态，状态包括空闲状态和工作状态；当测试模块处于工作状态时，测试机通过待测芯片的至少一个数据引脚向存储器传输第一数据或者从存储器读取第二数据，直至测试模块根据控制信号将状态切换为空闲状态；控制信号包括最大地址信号，当测试模块从空闲状态切换为工作状态时，测试模块中的计数值开始累加，当计数值累加至最大地址信号时，测试模块从工作状态切换为空闲状态。
3、可选地，工作状态包括第一工作状态和第二工作状态；当测试模块处于第一工作状态时，测试机通过待测芯片的至少一个数据引脚向存储器传输第一数据；当测试模块处于第二工作状态时，测试机通过待测芯片的至少一个数据引脚从存储器读取第二数据。
4、可选地，控制信号还包括使能信号、状态信号、启动信号和时钟信号，启动信号通过待测芯片的启动引脚输入测试模块，时钟信号通过待测芯片的时钟引脚输入测试模块；当处于空闲状态时，测试模块根据使能信号、状态信号和启动信号将状态切换为第一工作状态或第二工作状态；当处于工作状态时，测试模块根据时钟信号和最大地址信号将状态切换为空闲状态。
5、可选地，当处于空闲状态，且使能信号、状态信号和启动信号的转换信号均为高电平时，测试模块的状态切换为第一工作状态；其中，当启动信号由低电平跳变为高电平时，启动信号的转换信号表现为脉冲信号。
6、可选地，当处于空闲状态，状态信号为低电平且使能信号和启动信号的转换信号均为高电平时，测试模块的状态切换为第二工作状态；其中，当启动信号由低电平跳变为高电平时，启动信号的转换信号表现为脉冲信号。
7、可选地，测试模块包括第一上升沿检测单元和第二上升沿检测单元；第一上升沿检测单元的输入端连接待测芯片的启动引脚，被配置为接收启动信号，并将启动信号处理为启动信号的转换信号；第二上升沿检测单元的输入端连接待测芯片的时钟引脚，被配置为接收时钟信号，并将时钟信号处理为时钟信号的转换信号。
8、可选地，当处于工作状态，时钟信号的转换信号为高电平且计数值累加至最大地址信号时，测试模块的状态切换为空闲状态。
9、可选地，当处于第二工作状态时，测试机读取待测芯片的有效信号引脚所输出的有效信号；当有效信号为高电平时，测试机通过待测芯片的至少一个数据引脚从存储器读取第二数据。
10、可选地，测试模块包括若干个选择单元；若干个选择单元设置于测试模块和存储器以及测试模块和待测芯片的引脚之间，被配置为接收控制信号，并根据控制信号的电平状态，调整待测芯片的模式；其中，待测芯片的模式包括测试模式和非测试模式。
11、可选地，待测芯片为数模混合芯片，存储器为数据采集存储器；测试模块包括有限状态机，有限状态机被配置为根据控制信号设置测试模块的状态；存储器的访问端口包括片选端口、状态端口、地址端口、第一数据端口和第二数据端口；当测试模块处于工作状态时，片选端口被配置为接收高电平信号，地址端口被配置为接收计数值；当测试模块处于第一工作状态时，状态端口被配置为接收高电平信号，第一数据端口被配置为接收并存储第一数据；当测试模块处于第二工作状态时，状态端口被配置为接收低电平信号，第二数据端口被配置为将第二数据输出至待测芯片的至少一个数据引脚。
12、综上所述，本申请公开的测试系统至少具有以下有益效果：
13、（1）通过将测试模块直接设置在待测芯片上，可以在一定程度上降低对外部测试设备的依赖，以此降低芯片测试的成本；
14、（2）相较于现有技术中利用串行外设接口（serial peripheral interface，spi）进行数据的读取和写入，本申请的测试系统可以根据待测芯片的引脚数量在各个时钟周期内并行传输多个数据，以此降低测试时间并增加测试的效率；
15、（3）本申请的测试系统并不额外增加高成本的测试设备，例如自动化测试设备（automatic test equipment，ate）高速板卡，以此降低了测试成本。
1.一种测试系统，其特征在于，用于待测芯片，所述待测芯片包括存储器，所述测试系统包括测试机和测试模块，所述测试模块设置于所述待测芯片上并耦接所述存储器的访问端口；其中，
2.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述工作状态包括第一工作状态和第二工作状态；
3.根据权利要求2所述的测试系统，其特征在于，所述控制信号还包括使能信号、状态信号、启动信号和时钟信号，所述启动信号通过所述待测芯片的启动引脚输入所述测试模块，所述时钟信号通过所述待测芯片的时钟引脚输入所述测试模块；
4.根据权利要求3所述的测试系统，其特征在于，当处于所述空闲状态，且所述使能信号、所述状态信号和所述启动信号的转换信号均为高电平时，所述测试模块的状态切换为所述第一工作状态；
5.根据权利要求3所述的测试系统，其特征在于，当处于所述空闲状态，所述状态信号为低电平且所述使能信号和所述启动信号的转换信号均为高电平时，所述测试模块的状态切换为所述第二工作状态；
6.根据权利要求4或5所述的测试系统，其特征在于，所述测试模块包括第一上升沿检测单元和第二上升沿检测单元；
7.根据权利要求6所述的测试系统，其特征在于，当处于所述工作状态，所述时钟信号的转换信号为高电平且所述计数值累加至所述最大地址信号时，所述测试模块的状态切换为所述空闲状态。
8.根据权利要求2所述的测试系统，其特征在于，当处于所述第二工作状态时，所述测试机读取所述待测芯片的有效信号引脚所输出的有效信号；
9.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述测试模块包括若干个选择单元；
10.根据权利要求2所述的测试系统，其特征在于，所述待测芯片为数模混合芯片，所述存储器为数据采集存储器；
