本发明属于芯片检测，尤其公开了一种碳化硅芯片连续检测装置。
背景技术：
1、碳化硅芯片是一种高性能的半导体器件，以其出色的耐高温、耐高压和高频率特性，在电力电子、新能源汽车等领域发挥着重要作用，为了确保生产出的碳化硅芯片的各项参数符合规格要求，需要通过参数分析仪对碳化硅芯片的电气性能进行检测，在对碳化硅芯片进行连续检测时，现有的碳化硅芯片连续检测装置的工作流程通常为传送带输送待检测的芯片，芯片在传送带上整齐排列，以便通过参数分析仪依次连接芯片的引脚进行电气性能检测，但是，在传送带阶段移动对碳化硅芯片进行输送的过程中，传送带启动和停止时，碳化硅芯片会因为自身的惯性而发生轻微的移动和角度偏转，这导致参数分析仪在连接芯片引脚时难以快速准确地定位引脚位置，造成单个碳化硅芯片的检测时间增加，影响碳化硅芯片连续检测装置的工作效率和精度。
技术实现思路
1、针对传送带输送的碳化硅芯片排列不整齐使其引脚难定位的问题，本发明提供了一种碳化硅芯片连续检测装置。
2、技术方案为：一种碳化硅芯片连续检测装置，包括有安装座，所述安装座上转动连接有等距分布的电动辊，所述等距分布的电动辊共同架设有传送带，所述安装座上固接有支撑板，所述支撑板和所述安装座共同转动连接有丝杠，所述丝杠螺纹连接有与所述支撑板滑动连接的滑动块，所述滑动块滑动连接有顶板，所述支撑板的一侧固接有镜像的限位弯杆，所述镜像的限位弯杆均与所述顶板挤压配合，所述顶板滑动连接有镜像的滑动板，所述滑动板与所述顶板之间固接有弹簧，所述滑动块固接有镜像的拉绳，所述拉绳与对应所述滑动板固接，所述安装座远离所述支撑板一侧固接有安装架，所述安装架上滑动连接有定位块，所述安装架上固接有支撑块，所述定位块与所述支撑块接触配合，所述定位块内设置有等距分布的凹槽，所述定位块内设置有等距分布的探针，所述探针的下部位于所述定位块对应的凹槽内，所述安装座上靠近所述支撑板的一侧设置有用于控制碳化硅芯片移动摆正的顺序移动机构。
3、作为本发明的优选，所述镜像的滑动板之间的最短间距与碳化硅芯片的宽度相同，用于准确定位碳化硅芯片引脚位置。
4、作为本发明的优选，所述定位块上凹槽的宽度与碳化硅芯片引脚宽度相同，用于限定碳化硅芯片引脚在检测过程中的位置。
5、作为本发明的优选，所述顺序移动机构包括有电机，所述电机固接于所述安装座上靠近所述支撑板的一侧，所述电机的输出轴与所述丝杠固接，所述定位块的一侧固接有第一电推杆，所述第一电推杆的伸缩端与所述支撑块固接，所述顶板的中部滑动连接有限位销，所述限位销与所述顶板之间固接有弹簧，所述滑动块的下侧设置有与所述限位销限位配合的盲孔，所述安装座靠近所述电机的一侧固接有与所述顶板挤压配合的挤压块，所述支撑板靠近所述安装架的一侧设置有用于判定碳化硅芯片引脚是否大幅度弯折的弯折检测组件，所述安装座靠近所述电机的一侧设置有用于去除报废碳化硅芯片的去除组件。
6、作为本发明的优选，所述弯折检测组件包括有第二电推杆，所述第二电推杆固接于所述支撑板靠近所述安装架的一侧，所述第二电推杆的伸缩端固接有与所述支撑板滑动连接的连接板，所述连接板滑动连接有挤压板，所述连接板与所述挤压板之间固接有弹簧，所述挤压板上设置有与所述连接板挤压配合的压力感应片，所述支撑块的下侧滑动连接有测定架，所述安装架上设置有与所述测定架挤压配合的压力感应片。
7、作为本发明的优选，所述去除组件包括有滑动推杆，所述滑动推杆滑动连接于所述安装座靠近所述电机的一侧，所述滑动推杆与所述安装座之间固接有弹簧，所述安装座靠近所述电机的一侧固接有第三电推杆，所述第三电推杆的伸缩端固接有固定框，所述滑动推杆上设置有挡块，所述固定框上设置有第四电推杆，所述第四电推杆的伸缩端固接有与所述固定框滑动连接的限位滑块，所述限位滑块与所述滑动推杆上挡块挤压配合。
8、作为本发明的优选，还包括有压力控制机构，所述压力控制机构设置于所述定位块的一侧，所述压力控制机构用于控制所述等距分布的探针挤压碳化硅芯片引脚力度的大小，所述压力控制机构包括有弹性伸缩杆，所述弹性伸缩杆固接于所述定位块的一侧，所述弹性伸缩杆的伸缩端与所述支撑块挤压配合，所述探针与所述定位块滑动连接，所述弹性伸缩杆连通有导流管，所述定位块的上侧固接有等距分布的固定筒，所述固定筒内密封滑动连接与所述定位块滑动连接的活塞杆，所述活塞杆与对应所述固定筒之间固接有弹簧，所述活塞杆内设置有通孔，所述探针于对应所述活塞杆通孔内密封滑动，所述等距分布的活塞杆共同与所述导流管连通，所述活塞杆的上侧滑动连接有滑动挡板，所述滑动挡板与对应所述活塞杆之间固接有弹簧，所述滑动挡板上设置有与对应所述活塞杆通孔连通配合的通孔，所述滑动挡板的一侧设置有斜面，所述活塞杆的上侧通过安装板滑动连接有挤压杆，所述挤压杆与对应所述滑动挡板的斜面挤压配合，所述弹性伸缩杆、所述导流管、所述固定筒内对应所述活塞杆上侧和所述活塞杆的通孔内均注有液压油，所述安装架上设置有用于暂存所述等距分布的固定筒内液压油的储液组件，所述安装架的上侧设置有用于辅助所述弹性伸缩杆伸缩端恢复初始位置的复位组件。
9、作为本发明的优选，所述滑动挡板上斜面在水平面上的相对长度等于其上通孔的直径，所述滑动挡板通孔直径等于所述活塞杆通孔的直径，用于保证所述滑动挡板通孔与所述活塞杆通孔的最大连通面积。
10、作为本发明的优选，所述储液组件包括有储液筒，所述储液筒固接于所述安装架上，所述储液筒内滑动连接有圆板，所述储液筒连通有分流管，所述等距分布的固定筒的上侧共同与所述分流管连通，所述分流管和所述储液筒内所述圆板下侧均注有液压油。
11、作为本发明的优选，所述复位组件包括有固定架，所述固定架固接于所述安装架的上侧，所述固定筒的上侧通过连接块限位滑动连接有按压杆，所述按压杆与对应所述挤压杆挤压配合，所述按压杆与所述固定架挤压配合。
12、与现有技术相比，本发明具有以下优点：1、本发明通过移动顶板和滑动板的位置，调整碳化硅芯片的引脚朝向和检测位置，避免了碳化硅芯片排列不整齐，导致碳化硅芯片引脚的位置难以快速准确定位，影响本装置对碳化硅芯片的检测速度。
13、2、本发明通过弯折检测组件中连接板和挤压板的相对位置，判断碳化硅芯片的引脚是否存在大幅度倾斜，缩短了本装置对报废碳化硅芯片的检测步骤，提高本装置对碳化硅芯片连续检测的速度。
14、3、本发明通过移动去除组件中限位滑块的位置，达到快速判定并去除不合格的碳化硅芯片的目的，降低了碳化硅芯片无法正常工作的可能性，保证本装置最终产品的质量。
15、4、本发明通过控制压力控制机构中活塞杆通孔与滑动挡板通孔的连通状态，使探针对碳化硅芯片引脚保持稳定的挤压力，保证碳化硅芯片引脚的安全性。
1.一种碳化硅芯片连续检测装置，包括有安装座（1），所述安装座（1）上转动连接有等距分布的电动辊（2），所述等距分布的电动辊（2）共同架设有传送带（3），其特征在于：还包括有支撑板（4），所述支撑板（4）固接于所述安装座（1）上，所述支撑板（4）和所述安装座（1）共同转动连接有丝杠（5），所述丝杠（5）螺纹连接有与所述支撑板（4）滑动连接的滑动块（6），所述滑动块（6）滑动连接有顶板（7），所述支撑板（4）的一侧固接有镜像的限位弯杆（8），所述镜像的限位弯杆（8）均与所述顶板（7）挤压配合，所述顶板（7）滑动连接有镜像的滑动板（9），所述滑动板（9）与所述顶板（7）之间固接有弹簧，所述滑动块（6）固接有镜像的拉绳（10），所述拉绳（10）与对应所述滑动板（9）固接，所述安装座（1）远离所述支撑板（4）一侧固接有安装架（11），所述安装架（11）上滑动连接有定位块（12），所述安装架（11）上固接有支撑块（13），所述定位块（12）与所述支撑块（13）接触配合，所述定位块（12）内设置有等距分布的凹槽，所述定位块（12）内设置有等距分布的探针（14），所述探针（14）的下部位于所述定位块（12）对应的凹槽内，所述安装座（1）上靠近所述支撑板（4）的一侧设置有用于控制碳化硅芯片移动摆正的顺序移动机构。
2.根据权利要求1所述的一种碳化硅芯片连续检测装置，其特征在于：所述镜像的滑动板（9）之间的最短间距与碳化硅芯片的宽度相同，用于准确定位碳化硅芯片引脚位置。
3.根据权利要求1所述的一种碳化硅芯片连续检测装置，其特征在于：所述定位块（12）上凹槽的宽度与碳化硅芯片引脚宽度相同，用于限定碳化硅芯片引脚在检测过程中的位置。
4.根据权利要求1所述的一种碳化硅芯片连续检测装置，其特征在于：所述顺序移动机构包括有电机（201），所述电机（201）固接于所述安装座（1）上靠近所述支撑板（4）的一侧，所述电机（201）的输出轴与所述丝杠（5）固接，所述定位块（12）的一侧固接有第一电推杆（202），所述第一电推杆（202）的伸缩端与所述支撑块（13）固接，所述顶板（7）的中部滑动连接有限位销（203），所述限位销（203）与所述顶板（7）之间固接有弹簧，所述滑动块（6）的下侧设置有与所述限位销（203）限位配合的盲孔，所述安装座（1）靠近所述电机（201）的一侧固接有与所述顶板（7）挤压配合的挤压块（204），所述支撑板（4）靠近所述安装架（11）的一侧设置有用于判定碳化硅芯片引脚是否大幅度弯折的弯折检测组件，所述安装座（1）靠近所述电机（201）的一侧设置有用于去除报废碳化硅芯片的去除组件。
5.根据权利要求4所述的一种碳化硅芯片连续检测装置，其特征在于：所述弯折检测组件包括有第二电推杆（301），所述第二电推杆（301）固接于所述支撑板（4）靠近所述安装架（11）的一侧，所述第二电推杆（301）的伸缩端固接有与所述支撑板（4）滑动连接的连接板（302），所述连接板（302）滑动连接有挤压板（303），所述连接板（302）与所述挤压板（303）之间固接有弹簧，所述挤压板（303）上设置有与所述连接板（302）挤压配合的压力感应片，所述支撑块（13）的下侧滑动连接有测定架（304），所述安装架（11）上设置有与所述测定架（304）挤压配合的压力感应片。
6.根据权利要求4所述的一种碳化硅芯片连续检测装置，其特征在于：所述去除组件包括有滑动推杆（401），所述滑动推杆（401）滑动连接于所述安装座（1）靠近所述电机（201）的一侧，所述滑动推杆（401）与所述安装座（1）之间固接有弹簧，所述安装座（1）靠近所述电机（201）的一侧固接有第三电推杆（402），所述第三电推杆（402）的伸缩端固接有固定框（403），所述滑动推杆（401）上设置有挡块，所述固定框（403）上设置有第四电推杆（404），所述第四电推杆（404）的伸缩端固接有与所述固定框（403）滑动连接的限位滑块（405），所述限位滑块（405）与所述滑动推杆（401）上挡块挤压配合。
7.根据权利要求5所述的一种碳化硅芯片连续检测装置，其特征在于：还包括有压力控制机构，所述压力控制机构设置于所述定位块（12）的一侧，所述压力控制机构用于控制所述等距分布的探针（14）挤压碳化硅芯片引脚力度的大小，所述压力控制机构包括有弹性伸缩杆（501），所述弹性伸缩杆（501）固接于所述定位块（12）的一侧，所述弹性伸缩杆（501）的伸缩端与所述支撑块（13）挤压配合，所述探针（14）与所述定位块（12）滑动连接，所述弹性伸缩杆（501）连通有导流管（502），所述定位块（12）的上侧固接有等距分布的固定筒（503），所述固定筒（503）内密封滑动连接与所述定位块（12）滑动连接的活塞杆（504），所述活塞杆（504）与对应所述固定筒（503）之间固接有弹簧，所述活塞杆（504）内设置有通孔，所述探针（14）于对应所述活塞杆（504）通孔内密封滑动，所述等距分布的活塞杆（504）共同与所述导流管（502）连通，所述活塞杆（504）的上侧滑动连接有滑动挡板（505），所述滑动挡板（505）与对应所述活塞杆（504）之间固接有弹簧，所述滑动挡板（505）上设置有与对应所述活塞杆（504）通孔连通配合的通孔，所述滑动挡板（505）的一侧设置有斜面，所述活塞杆（504）的上侧通过安装板滑动连接有挤压杆（506），所述挤压杆（506）与对应所述滑动挡板（505）的斜面挤压配合，所述弹性伸缩杆（501）、所述导流管（502）、所述固定筒（503）内对应所述活塞杆（504）上侧和所述活塞杆（504）的通孔内均注有液压油，所述安装架（11）上设置有用于暂存所述等距分布的固定筒（503）内液压油的储液组件，所述安装架（11）的上侧设置有用于辅助所述弹性伸缩杆（501）伸缩端恢复初始位置的复位组件。
8.根据权利要求7所述的一种碳化硅芯片连续检测装置，其特征在于：所述滑动挡板（505）上斜面在水平面上的相对长度等于其上通孔的直径，所述滑动挡板（505）通孔直径等于所述活塞杆（504）通孔的直径，用于保证所述滑动挡板（505）通孔与所述活塞杆（504）通孔的最大连通面积。
9.根据权利要求7所述的一种碳化硅芯片连续检测装置，其特征在于：所述储液组件包括有储液筒（601），所述储液筒（601）固接于所述安装架（11）上，所述储液筒（601）内滑动连接有圆板（602），所述储液筒（601）连通有分流管（603），所述等距分布的固定筒（503）的上侧共同与所述分流管（603）连通，所述分流管（603）和所述储液筒（601）内所述圆板（602）下侧均注有液压油。
10.根据权利要求9所述的一种碳化硅芯片连续检测装置，其特征在于：所述复位组件包括有固定架（701），所述固定架（701）固接于所述安装架（11）的上侧，所述固定筒（503）的上侧通过连接块限位滑动连接有按压杆（702），所述按压杆（702）与对应所述挤压杆（506）挤压配合，所述按压杆（702）与所述固定架（701）挤压配合。
